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SuperView W1光学仪器3D颗粒轮廓仪可广为应用积体电路研发及元件陶瓷检查、3C自由电子天花板端及其精细部件、光学仪器制品、微纳材质及研发、汽车零部件、MEMS集成电路等极限精细制品服务业及航天、国防军工、科研等应用领域之中。可测定各类从超柔软到柔软、较高亮度到较高亮度的质点颗粒，从石墨烯到微米层级焊的粗糙度、平整度、物理欧几里得形状、截面等，给予依据国际标准化组织/ASME/洛雷托/GBT五大国内规范共300余种2D、3D表达式作为称赞规范。SuperView W1光学仪器3D颗粒轮廓仪形状数据分析流程简介：1.将试样安放在载物台摄像机底部；2.检查和传动装置连接起来和环境噪声，确定科学仪器平衡状态；3.采用踏板可调G齿轮，找寻试样颗粒介入斑点；4.修改美版齿轮，找寻待测范围，并再次找寻介入斑点；5.顺利完成成像设立和重新命名等加载；6.点选开始测（离开3D配置文件站内旋转轴变动通过观察一会）；7.阶梯试样数据分析第一步：校平；8.离开自动化用户界面，点选“校平”边框，和三角形试样相同，阶梯试样需要手动所选指标范围，选人好指标范围后，再“全部考虑”便“包含”；9.若试样颗粒有好几处范围仅为三角形且高度一致，可多可选择几个范围作为基准开展校平；10.阶梯倾斜度测：支线阶梯倾斜度测11.离开数据分析方法用户界面，点选“阶梯倾斜度”边框，需单独得到自动检测平衡状态下的面上阶梯倾斜度关的资料；12.在左边点选“手动检查”，根据需求量可选择适当的圆形作为三角形1和三角形2的测范围，资料栏可单独存取两个范围的面上阶梯倾斜度误差；13.阶梯倾斜度测：支线阶梯倾斜度测14.离开自动化用户界面，点选“提炼构造”边框，采用适当路径的构造支线，提炼最终目标一段距离的构造形状椭圆；15.离开数据分析方法用户界面，点选“阶梯倾斜度”边框，由于所测为两端沟槽到两边三角形倾斜度，因此点选左边桌面，测条正弦可选择“2”，将白色基准线对安放到沟槽三角形两端，两对测支线对分别安放在两边三角形，需在资料钢索存取阶梯倾斜度资料。
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【轮廓仪】SuperView W1光学仪器3D颗粒轮廓仪形状数据分析加载简介
核心提示：SuperView W1光学仪器3D颗粒轮廓仪可广为应用积体电路研发及元件陶瓷检查、3C自由电子天花板端及其精细部件、光学仪器制品、微纳材质及研发、汽车零部件、MEMS集成电路等极限精细制品服务业及航天、国防军工、科研等应用领域之中。可测定
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