发表声明:本文为编者臭皮匠试验室(同腾讯号)许可证发表,刊发劝标示来历。加热运转试验中(Rock teperature operating endurance,HTOE)是磁传动装置控制系统平均寿命试验中三座大山之一,不属于生存环境安全性试验中。国际标准化组织和KB仅反驳不大表述,但是"这些规范能否散布货运平均寿命?","货运平均寿命与HTOE又是如何等效的?",格外我们阐述。迄今服务业内关于加热运转长时间试验中,主要参看不限三个规范:KB/S安18488, 国际标准化组织安16750和 国际标准化组织安19453。KB/S 18488KB/S 18488.1和 KB/S 18488.2之中关于加热运转试验中的详细描述分别如下:划为信息化:传动装置+自动化,额定供电系统下,55℃,年中2h,道通压缩空气, 复测导电阻抗 。可以说明了,HTOE主要是高端传动装置+自动化的平均寿命次测试,这从上方揭示成传动装置自动化的低温危险性,其中导电阻抗是该试验中决定性合格项,这是因为 加热减慢了导电流失。(No关于导电阻抗的次测试规范解释和开拓,更进一步都会时事简介,这里再认真个完整版No)但是由于供电系统表述与货运以外平均寿命并不相同,舒服用做平均寿命合格,这里不认真自荐。ISO16750/ISO19453ISO16750安4 5.1.2.2 和ISO19453 5.1.2.2之中关于加热运转试验中的敦促相似,叙述如下:其中,关于control 3.2的详细描述如下:其中,关于Test E的详细描述如下:划为信息化:额定供电系统,最高者低温,年中96h。那么原因来了: ISO16750和ISO19453 能否散布货运的供电系统和平均寿命需求量?忽: 从迄今了解到讯息来看,两规范虽较KB/S 18488不大加强, 但是仍难以相关联货运加热长时间平均寿命。实际情况不见更进一步数据分析。那么 , ”是不是要如何对加热运转长时间开展表述,可以等效货运以外生殖呢? “货运生殖和损耗敦促在问道这个原因之后,首先对加热运转长时间的旨在、区域和某类做下解释。加热运转长时间试验中,称做,旨在是为了证明磁传动装置控制系统和零件在以外平均寿命之中的退役情形。因此,在其设计试验中之后,要从货运取向,清楚新产品平均寿命周期性、损耗种类,主要有不限几多方面:1)平均寿命总长度,如10年30万公里2)路谱讯息:供电系统敦促及相异的一段时间和周而复始将近,据此数值得到总的运行,一般为7000~10000h3)低温曲谱讯息:一般来自货运读取,或者参看规范根据装设一段距离开展表述,左图为伸手指明;依此讯息,我们对EDS在以外平均寿命之中的退役生存环境和周期性有了进一步表述,但是台架不不太可能督导以外平均寿命的载入次测试。因此,为了降低试验中工作效率、提高一段时间和支出的效率,我们导入符合于加热长时间试验中的减慢数学模型:Arrhenius数学模型。Arrhenius 数学模型之比如下:其中:S_Class就是指的是台架试验中表述的低温,一般而言为了超出极快的减慢真实感且不能遭遇降额或者破损,都会可选择低温曲谱之中的最高者低温;S_Ground,i 是低温曲谱上的相同低温;S_E是移除质子化kJ,一般为0.45电子伏特;G为朗道方程,一般而言为8.617*l安5 电子伏特/GE_S,i是每个低温点下的减慢突变,比如E_S,1算下来是5000,相异低温曲谱注脚安40℃供电系统下,其在台支架S_Class低温下的等效运行为7000~10000/5000个时长。综上,总的减慢突变之比如下:其中:r_oper.就是指的是货运表述的总的运行,即上述写到的10950h;d_i 是各低温点下的供电系统占有比情形,如安40℃占有比6%;r_error 是根据减慢突变和低温曲谱之中的供电系统占有比,减慢后的总试验中一段时间。HTOE试验中其设计推论货运平均寿命10年30万公里,以外平均寿命内运行为8000h,先导缓冲的低温损耗讯息如上述下图,次测试在湿度100℃下进行。根据Arrhenius数学模型,可以数值得到如下加热运转长时间试验中间隔时间为1381h,在IV.d和IV.w两种岗位方式也间歇督导,其间隔时间分作47h和1h,简要次测试周而复始椭圆如下所示下图(扫描察看):其中, IV.w 代表人被测样件不带舟岗位,IV.d代表人被测样件带载岗位。必需特别注意的是,整个HTOE运转流程之中,HVDC压差可以参看“30%最高者电阻/40%额定电阻/30%最高电阻”的份额开展开展平均分配。综上,导语之中的原因有了题目:1)GB18488和ISO16750/ISO19453规范之中对加热运转长时间的表述不会散布货运以外平均寿命;2)可以依据货运生殖和损耗敦促,通过Arrhenius数学模型对加热长时间减慢,顺利完成HTOE试验中的等效其设计。关于加热运转长时间测试的应用领域,可以从不限几多方面做下愿景:1)同意将Arrhenius数学模型或其他数学模型作为规范红皮书敦促,拥护有独立自主技能的货运折合适合于自己的HTOE长时间试验中。2)HTOE测试的 台架次测试低温 如何表述较为适当?3)关于HTOE测试的 纳 舟供电系统IV.d 如何表述较为适当?4)若将DCDC继承人于MCU之中,以外平均寿命之中的运行应该还要考量其他供电系统,如 锂电池或 软硬件电弧 所用一段时间?5)意味着对电传动装置控制系统的 低温曲谱的表述 应该考量必要?关于“愿景”之中所述的几点章节,也是原来只想所写的,但是短短两千字元页数不能把这些章节讲清楚,这里再认真个段落,我们更进一步必要,表示感谢大家的瞩目。