日本三丰UMAP视像系统细微形状测量系统 日本三丰UMAP视像系统细微形状测量系统-91化工仪器网

价格：面议

生产地：日本厂商性质：生产商

品牌：型号：日本三丰UMAP视像系统细微形状测量系统

西安日本三丰，西安德国马尔，西安瑞士TESA，西安世达工具，西安史丹利工具，西安得力工具，西安力易得工具，西安长城精工工具，西安防爆工具

西安普润机电科技有限责任公司是日本三丰、瑞士TESA在西北地区的一级代理销售商，也代理了美国世达工具，美国史丹利工具，美国力易得工具，得力长城精工工具。主要经营有：数显卡尺、数显千分尺、内径千分尺、特殊卡尺、特殊千分尺、数显千分表、百分表、磁性表座、测径器、厚度表、粗糙度仪、硬度计、测量显微镜、工具显微镜、投影仪、卧式投影仪、高度尺、轮廓仪、测距仪、测高仪、圆度仪、数据处理器、深度尺、三坐标、超声波探伤仪、测厚仪等量具、仪器，欢迎致电询购。网站：www.poro.com.cn

UMAP视像系统

361系列 细微形状测量系统

特点

使用超小测针，通过接触测量获得细节翔实的形状

用户可通过视像测头对所需细微区域进行放大或进行一般的视像测量。

可将TP200触摸信号测头用于CMM。（1型）

有两种机型可选

1型: 带有MCOSMOS软件的基础型三坐标

测量机

2型: 带有QVPAK软件的基础型视像系统

测量实例

测量极小孔（如:线切割件）

本机不仅可以测量各种微小外形，而且可以在每一测量点测得的几何特性（直线度、圆度、平面度）的基础上形成由实际误差构建的表面真貌。

性能参数：

型号

UMAP视像系统Type1

UMAP视像系统Type2

HYPER302

ULTRA350

HYPER302

ULTRA350

行程范围X,Y轴

Z轴UMAP101/103

UMAP107/110

UMAP130

245x200mm

295x350mm

185x200mm

235x350mm

175mmmm

125mm

175mm

125mm

180mm

130mm

180mm

130mm

185mm

135mm

200mm

150mm

精度*  视像系统E1XY

（20 C 0.2 C）  E1Z

重复精度UMAP101/103/107

UMAP110/130

0.8+2L/1000） m

（0.5+2L/1000） m

（0.8+2L/1000） m

（0.3+L/1000） m

（3.0+2L/1000） m

（3.0+2L/1000） m

（3.0+2L/1000） m

（3.0+2L/1000） m

s=小于0.1 m

s=小于0.1 m

s=小于0.15 m

s=小于0.15 m

分辨率／长度标准杆

0.01 m,反射型线性编码器

0.01 m,反射型线性编码器

视像系统  照明系统

高灵敏度CCD照相机

表面／环形照明

表面／可编程环形照明

黑白

黑白

测量工作台尺寸（D）

399x271mm

438x509mm

399x271mm

438x509mm

zui大工件负荷

15kg

25kg

10kg

40kg

尺寸（DxH）、重量（包括支架）

784x860x1535mm,

383kg

882x1326x1640mm,

1320kg

784x860x1535mm,

383kg

882x1326x1640mm,

1320kg

*L 为任意两点间尺寸 （mm）