50xNikon-50xNikonCFIC EPI Plan TI相干测量物镜_干涉测量镜头,光学非接触测量,非接触干涉镜头_供应信息_91化工仪器网

产品说明：

干涉测量镜头可用在非接触光学压型测量设备上，通过此镜头可得到表面位图和表面测量参数等。也可用来检测表面粗糙度，测量精度非常高，在一个波长之内。一束光通过分光镜，可将光直接射向样品表面和内置反光镜。从样品表面反射的光线通过再结合，就产生了干涉图案。与Mirau镜头比起来，Michelson镜头拥有更长的工作距离，更宽的视场和更大的焦深。Mirau镜头用在需要高倍率和/或大数值孔径的场合。采用Nikon 200mm镜筒(#58-520)的话可将镜头直接装配到C接口相机上。

品名型号

50xNikon，CF， IC EPI Plan TI相干测量物镜

产品号

59-314

放大率

50X

数字孔径(NA)

0.55

焦深( m)

0.9

视场, 1/2" 传感器
(FOV, 1/2" Sensor)

0.13 x 0.10mm

视场, 2/3" 传感器
(FOV, 2/3" Sensor)

0.18 x 0.13mm

视场，20直径视场目镜 (mm)

0.22

视场，25直径视场目镜 (mm)

0.5

焦距
FL (mm)

4.0

生产商

Nikon

安装螺纹

RMS

分辨能力 ( m)

0.5

类型

Mirau

重量 (g)

150.00

工作距离WD (mm)

3.4

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用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。

适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。

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根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。

包含多型号：

2.5xNikon，CF， IC EPI Plan TI相干测量物镜

5xNikon，CF， IC EPI Plan TI相干测量物镜

10xNikon，CF， IC EPI Plan TI相干测量物镜

20xNikon，CF， IC EPI Plan TI相干测量物镜

50xNikon，CF， IC EPI Plan TI相干测量物镜

100x尼康 CF IC Epi Plan 干涉测量物镜

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