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半导体分立器件测试筛选系统|IGBT静态参数测试仪|IGBT动态参数测试仪| 功率循环试验台|高温反偏差测试系统
公司简介：
西安天光测控技术有限公司 是一家从事 半导体功率器件测试设备 研发、生产、销售的高新技术企业。产品有半导体分立器件测试筛选系统。Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOS , DIODE , BJT , SCR的电参数及可靠性和老化测试。
产品包括：静态单脉冲（包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数）动态双脉冲（包括Turn_ON_L, Turn_OFF_L , FRD , Qg）Rg , UIS , SC , C, RBSOA 等。环境老化测试（包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等）热特性测试（包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等）各类全系列测试设备。广泛应用于半导体器件上游产业（设计、制造、封装、IDM厂商、晶圆、DBC衬板）和下游产业（院所高校、电子厂、轨道机车、新能源汽车、白色家电等元器件的应用端产业链）。
公司团队汇集了来自国内著名院校及电力电子行业的专家教授。拥有众多国际的革命性创新技术。产品成熟可靠，久经市场考验，在替代进口产品方面有着突出的优势。公司从产品到服务，从技术咨询到现场支持，可覆盖功率器件的初始研发到规模化生产的整个领域。
展望未来，公司将全力发挥自身技术优势，为客户提供全方位专家级的技术支持以及更多的经典产品。
产品系列
晶体管图示仪
半导体分立器件测试筛选系统
静态参数测试（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）
动态参数测试（包括Turn_ON OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）
环境老化测试（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）
热特性测试（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）
可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件
瞬态热阻测试仪
ST-Thermal_X 功率器件热特性测试系统
可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的热特性
包括 功率循环 秒级 分钟级/Pcsec PCmin，被动循环/TC，热阻（抗）/Rth/Zth，K曲线/Kcurve
电路原理简图
说明： Qf为总进线保护断路器，电源电压经过电压调节到主功率变压器，由主功率变压器到整流和滤波单元，产生大功率直流电源。再由电子开关施加到被测单元。图中二极管为隔离二极管，热敏电流单元提供足够大的热敏电流。触发单元施加规定的触发电压，处于导通状态。工控机和PLC智能系统保证设备的正常工作时序和操作人员安全。冷却系统和气路系统保证设备的可靠运行
产品特点
品类齐全的DUT适配器（针对不同封装外观的器件及模块，提供专用的适配连接装置）；
系统具有过流、过热、水压不足等保护功能。具有连续工作的特点；
测试程序由计算机控制，按设定的程序进行自动测试，且系统采用内控和外控两种方式，便于工作人员操作；
脱机状态时，面板显示每个工位的壳温，试验电流、试验次数、加热时间、冷却时间等；
器件保护：被测器件及模块的特性变化超过限值后自动停止测试；
安全稳定（PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁）；
智能化，通过主控计算机进行操控及数据编辑，测试结果自动保存及上传指定局域网；
安全防护：系统具有防爆、防触电、防烫伤、烟雾、漏液等多重保护，结合远程测试能力确保操作人员安全。
配有漏电保护器及空气开关，对短路、过载及漏电等情况进行保护，设计符合CE认证；
技术规格
