手机版|
二维码|
联系我们时请说明是91化工仪器网上看到的信息，谢谢!
产品简介 品牌 其他品牌 价格区间 面议 产地类别 国产 高分辨率波前分析仪/波前传感器/波前相差仪是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。
详细介绍
高分辨率波前分析仪/波前传感器/波前相差仪
400x300高分辨率、500um高动态范围、高性价比、同时检测波前与M^2波前传感器！
关键词：波前传感器、波前分析仪、波前像差仪、传感器、波前测试仪、波前探测器、激光波前分析仪、哈特曼波前分析仪、虹膜定位、哈特曼波前传感器、波前象差、高分辨率波前分析仪、波前测量仪、激光光束及波前分析仪、夏克 哈特曼、镜头MTF
公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。
高分辨率波前分析仪/波前传感器/波前相差仪
波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐zui合适的SID4波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。
图1 波前校正前与校正后对比
波前探测器依据其四波横向剪切干涉技术，对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。波前传感器将400x300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求，可对激光光束进行光强、位相、PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差、M^2等进行实时、简便、快速的测量。
*部 产品介绍
SID4 UV-HR高分辨紫外波前传感器
公司将 SID4的波前测量波长范围扩展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器,非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测等）。
特点：
u 高分辨率（250x250）
u 通光孔径大（8.0mmx8.0mm）
u 覆盖紫外光谱
u 灵敏度高（0.5um）
u 优化信噪比
图2 SID4-UV波前分析仪
SID4 波前传感器
可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、强度分布，波前像差，激光的M2，泽尼克参数等进行实时的测量及参数输出。
特点：
波长范围：400-1100nm
分辨率高（160x120）
消色差
测量稳定性高
对震动不敏感
操作简单
结构紧凑，体积小
可用笔记本电脑控制
图3 SID4位相检测
可用于检测各种透镜，光学系统的检测，可以对透镜、光学系统的进行实时的PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差测量及参数输出。相对于传统的透镜检测设备像：传函仪、干涉仪，具有操作简便，测量精度高，参数输出方便等优点，正在被越来越多的客户推崇。
特点：
u 波长范围：400-1100nm
u 高性能的相机，信噪比高
u 实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）
u 曝光时间极短,保证动态物体测量
u 操作简单
图4 SID4-HR
图5 SID4-HR传递函数检测
SID4 NIR 波前分析仪
主要针对1550 nm（1.5um-1.6um）激光的检测，具有分辨率高高灵敏度、高动态范围、操作简便等独特的优势。可用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。
特点：
高分辨率（160x120）
快速测量
性价比高
绝对测量
对振动不敏感
图6 SID4 NIR激光波前检测
SID4 DWIR 波前仪
具有宽波段测量的特点。可以实时的检测3-5um和8-14um的波前位相，强度分布等响应的波前信息。可以很好的满足红外波段客户的波前检测需求。
特点：
u 光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。
u 光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等
u 高分辨率（96x72）
u 可实现绝对测量
u 可覆盖中红外和远红外波段 大数值孔径测量，无需额外中转透镜
u 快速测量 对振动不敏感
u 可实现离轴测量
u 性价比高
图7SID4 DWIR
SID4产品型号参数汇总
型号
SID4
SID4-HR
SID4 UV-HR
SID4 NIR
SID4 DWIR
SID4-SWIR
孔径尺寸（mm2）
3.6 x4.8
8.9 x11.8
8.0 x8.0
3.6x4.8
13.44x10.08
9.6x7.68
空间分辨率(um)
29.6
29.6
32
29.6
140
120
测量点数
160x120
300x400
250x250
160x120
96x72
80x64
波长范围
350-1100 nm
350-1100 nm
190-400 nm
1.5-1.6 m
3-5 m 8-14 m
0.9- 1.7 m
精准度
10nm RMS
10nm RMS
10nm RMS
15nm RMS
75nm RMS
10nm RMS
动态范围
100 m
500 m
200um
100 m
/
~100 m
采样速度
60 fps
10 fps
30 fps
60 fps
50 fps
60fps
处理速度
10fps
3 fps
1fps
10fps
20 Hz
10Hz
第二部 控制软件
SID4波前分析仪控制软件
SID4波前分析仪控制软件与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的分析软件，其集成了高分辨率的相位图与强度分布图，测量光强分布和波前信息。
借助Labview和C++ 可编程模块数据库（软件二次开发工具包），客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。
Adaptive Optics Loops将SID4 Wavefront Sensor结合您的应用，选配合适的可变形镜或相位调制器，提供整套的自适应光学系统。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的，我们的产品能为激光光束和成像系统带来更可靠，高精度的解决方案。
图8 SID4控制界面
SID4光学测量软件Kaleo
基于剪切干涉的波前传感器与专门设计的光学测量软件Kaleo结合，可以测量球面镜和非球面镜的像差及MTF等信息。只需要几秒钟，我们的仪器为您呈现绝大部分的光学参数，如焦距，光腰，MTF，像差，Zernike系数，曲率半径，PSF等。
第三部 与传统哈特曼波前分析仪比较
与传统哈特曼波前传感器测量结果对比：
技术参数对比：
PHASICS
Shack-Hartmann
区别
技术
剪切干涉
微透镜阵列
PHASICS投放市场时，已经申请技术，是对夏克-哈特曼技术的升级
重建方式
傅里叶变换
分区或模式法
夏克-哈特曼波前探测器，局域导数以微透镜单元区域的平均值来近似，误差大
强度
对强度变化不敏感
对强度变化灵敏
PHASICS测量精度高，波前测量不依赖于强度水平
校准
用针孔校准、方便快捷
安装困难，需要精密的调节台
PHASICS使用方便
取样点
SID4-HR达300x400测量点
128X128测量点（多个微透镜）
PHASICS具有更高的分辨率
数值孔径
NA：0.5
NA：0.1
PHASICS动态范围更高
分辨率
29.6 m
115 m
PHASICS具有更高的空间分辨率
测量精度
2nm RMS
5nm RMS
PHASICS更好的测量精度
获取频率
60fps
30fps
PHASICS获取速度快
处理频率
10Hz
30Hz
PHASICS可满足大部分处理要求
消色差
无需对每个波长进行校准
需要在每个波长处校正
PHASICS更灵活，可以测试宽波段，而不需要校准
第四部 应用领域
激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测
激光光束性能、波前像差、M^2、强度等的检测
红外、近红外探测
平行光管/望远镜系统的检测与装调
卫星遥感成像、生物成像、热成像领域
球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)
虹膜定位像差引导
大口径高精度光学元器件检测
激光通信领域
航空航天领域
以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，91化工仪器网对此不承担任何保证责任。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。 搜本商铺 或 搜全站
上海昊量光电设备有限公司 - 主营产品： 微型振镜,共焦拉曼光谱仪,超微型光谱仪,定制光纤束,多模石英光纤
地址：上海市徐汇区漕宝路86号，光大会展中心F座2802室 联系电话：86-21-51083793 手机：15601689581 传真：86-21-34241962-800991化工仪器网 设计制作，未经允许翻录必究 . Copyright(C) http://www.chem17.com, All rights reserved. 以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，91化工仪器网对此不承担任何保证责任。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
会员登录
