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冲击试样缺口投影仪 CST

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放大字体  缩小字体    发布日期:2019-03-05  来源:仪器信息网  作者:Mr liao  浏览次数:448

CST-50型冲击试样缺口投影仪是我们根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-2007《金属夏比摆锤冲击试验方法》、ASTM E23 《金属材料缺口试样标准冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上,与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,其优点是操作简便,检查对比直观,效率高。

技术规格

1、 投影屏直径:200*200mm(新型投影屏有刻度显示)

2、工作台尺寸 :方工作台尺寸:110×125mm,方工作台直径:90mm,工作台玻璃直径:70mm

3、工作台行程 :纵向:±10mm,横向:±10mm,升降:±12mm

4、工作台转动范围: 0~360°

5、仪器放大倍率:50X

物镜放大倍率: 2.5X

投影物镜放大倍率:20x

6、光源(卤钨灯):12V 100W

7、电源: 220V 50Hz

8、外形尺寸:515×224×603mm

 
 
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