金属材料成分分析仪_金属成分分析仪-深圳市天瑞仪器有限公司

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产品简介 材料成分分析仪可以用于合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）EDX 4500H金属材料成分分析仪—— X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
详细介绍

金属材料成分分析仪可以用于合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）

EDX 4500H金属材料成分分析仪 X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。 

该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。 

另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

 

技术参数

 

产品型号：EDX 4500H

产品名称：X荧光光谱仪 

测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）

元素含量分析范围： ppm 99.99%（不同元素，分析范围不同） 

同时分析元素：一次性可测几十种元素 

测量时间：30秒-200秒 

探测器能量分辨率为：145 5eV

管压：5KV-50KV 

管流：50 A-1000 A

测量对象状态：粉末、固体、液体

输入电压：AC 110V/220V

环境温度：15℃-30℃ 

环境湿度：35%-70%

样品腔体积：320mm 100mm

外形尺寸：660mm 510mm 350mm

重量：65Kg

 

标准配置

 

高效超薄窗X光管 

SDD硅漂移探测器 

数字多道技术

光路增强系统 

高信噪比电子线路单元 

内置高清晰摄像头 

自动切换型准直器和滤光片 

自动稳谱装置 

三重安全保护模式 

可靠的整体钢架结构

90mm 70mm的状态显示液晶屏

真空泵

 

性能特点

 

高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平 

新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好

SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比 

低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好 

智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围 

自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性

高信噪比的电子线路单元 

针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐 

解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度

多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制

内置高清晰摄像头 

金属材料成分分析仪液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

 

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