激光共聚焦荧光成像系统 FFS / FLIM

满足FLIM / FFS 、PLIM以及TTTR时间标记的时间分辨荧光持续采集；可以选择振镜扫描成像和自动台扫描成像模式；可同时选择，快速获得高分辨大面积的共焦扫描成像数据；

Prof. Joseph R. Lakowicz 实验室选择的FLIM系统

可以选择数字频域技术DFD-FLIM （FastFLIM）和时域技术TD-FLIM （TCSPC）成像技术；也可以双重选择。用户可以在频域的快速和TCSPC的高分辨中，重复发挥，保证样品的数据高效采集；

可以选择300-1700nm波长范围检测器，2-4通道检测器，用于成像；

可以升级无波长干扰AFM，实现同区域形貌和FLIM同步测试；

可以选择紫外-可见-红外激发波长，单波长或超连续激光器；单光子或双光子的激光器；

单双光子激光共聚焦扫描成像系统

扫描模式：共聚焦高级成像和分析软件支持多种扫描模式，

点式扫描模式 - 一个点或多个点组合进行扫描;

线式扫描模式 - X，Y，Z;

光栅模式 - XY；

圆形模式 - 轨道扫描给定的中心点和半径;

多维组合扫描模式 - XZ，YZ或XYZ;

每个扫描模式可以随着时间的推移相结合。

振镜扫描：高级镀银高反射率的光学振镜

最大扫描速度为5kHz;最短停留时间为4微秒;

图像数据采集模式及输出：光子计数成像。除了软件自身所用图像存储格式，软件要支持TIFF，PNG，AVI等图像格式的输出。

可配倒置或正置荧光显微镜（Olympus，Nikon， Zeiss， Leica， etc.）;

可配手动或软件驱动的电动（xy或xyz）显微镜平台。

单双光子激光共聚焦扫描检测系统

可配1 ~ 3个独立荧光通道，光谱检测范围由用户的需求来选择的检测器决定。

每个荧光通道有独立的高灵敏度磷砷化镓光电倍增管（GaAsP）或磷砷化镓雪崩型二极管混合型（Hybrid）光子计数检测器，每个检测器有独立的增益和制冷调节并由软件控制，每个检测器有独立的光负荷保护功能。

单光子共焦针孔检测，全自动连续调节型，调节精度从20微米至1毫米。

单光子激光器和红外飞秒激光器系统

单光子激光器系统：

固体激光器：单一波长，375nm～700nm，操作模式 - 连续或脉冲，重复率可调。

每个激光配有独立的光强调控和快门并由软件控制。

可配多条固体激光器，通过光纤(single-mode polarization maintained)导入到扫描成像系统。

近红外飞秒激光器系统

Toptica FemtoFiberPro激光器, 1560nm 780nm双波长

Coherent 或 Spectra Physics Ti:Sapphire 激光器，波长可调 － 680nm ～ 1080nm

红外激光直接导入到扫描成像系统。

红外激光配有独立的光强调控和快门并由软件控制。

FFS （FCS，PCH，FCCS，FLCS）, scanning FCS，RICS，N B数据采集系统及软件分析系统

支持在固定和活标本许多定量显微成像测量。

FFS（FCS, PCH, FCCS，FLCS）数据采集： 3种数据采集模式，计数模式，时间标记模式，时间标记和时间分辨（TTTR）模式。在TTTR模式获得的数据被用于FLCS分析。提供脉冲次序激励（PIE）功能以确保FCCS数据采集精确性。

FFS (FCS, PCH, FCCS，FLCS) 数据分析：软件提供超过20种拟合分析模型可用于FCS和PCH数据分析，考虑了不同的激发光点扩散模式：单光子，双光子（GaussianLorentzian），2D，3D。软件提供文档输入界面便于用户自定义模型和参数。基于提供的模型，用户可测量多种荧光物理参数，包含点扩散空间参数，扩散系数、浓度、分子量，流动速率，三重太的衰减时间，等等.

扫描FCS (scanning FCS) 数据采集和分析：软硬件支持scanning FCS数据采集模式，软件配有专门分析scanning FCS数据的地毯式解析（carpet analysis）功能。

格栅图像相关光谱（RICS）数据采集和分析：软硬件支持RICS数据采集模式，配有专门软件分析RICS数据。

计数和亮度（N＆B）数据采集和分析：软硬件支持N B数据采集模式，配有专门软件分析N B数据。

快速荧光寿命成像（Fast FLIM）数据采集系统及软件分析系统

荧光寿命成像(FLIM)和磷光寿命成像(PLIM)数据采集：快速的数字频域荧光寿命成像技术设备，可以支持同时多达4个通道的数据采集和分析检测，每个数据通道的数据采集率可超过107 (10 Million) counts/second，数据采集死亡时间小于10ns。可测量小于纳秒(sub-nanoseconds)到毫秒(miliseconds)范围的荧光寿命或磷光寿命。

荧光寿命成像(FLIM)数据分析：软件提供常用的拟合分析和新颖热门的向量图形分析（phasor plots）。在数据采集时，软件实时反馈数据在phasor plot上的变化以便用户实时观察荧光寿命(lifetime)的变化。同时，软件提供基于phasor plot的荧光寿命成像和荧光共振能量转移（FLIM-FRET）的数据分析。软件提供基于非线性最小二乘方的循环去卷积算法的拟合分析，用户可定义衰减模型并可选择测量或软件模拟系统相应函数。

单分子(single molecule)和单分子荧光共振能量转移(single molecule FRET)数据采集和分析：软件提供了单分子和基于PIE模式的单分子FRET数据采集功能，并包括了迸发分析（burst analysis），FRET效率计算，柱状图和化学计量测定等等。