高温铁电测试仪

本测试系统采用虚地模式测量电路，与传统的Sawyer-Tower模式相比，此电路取消了外接电容，可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于积分器积分电容的精度，减少了对测试的影响环节，比较容易定标和校准，并且能实现较高的测量准确度，它不仅能画出铁电薄膜的电滞回线，还可以定量得到铁电薄膜材料的饱和...[查看全部]

高温铁电测试仪

产品名称：高温铁电测试仪

产品型号：HCTD-800

品牌：北京华测

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产品介绍

高温铁电测试仪用于铁电体的铁电性能测量，可用于铁电体的科学研究及近代物理实验中的固体物理实验以及工业化生产铁电存储器的铁电性能检测中。本测试系统主要包括可编程信号源、微电流放大器、积分器、放大倍数可编程放大器、模/数转换器数/模转化器、微机接口部分、微机和应用软件等部分组成。

本测试系统采用虚地模式测量电路，与传统的Sawyer-Tower模式相比，此电路取消了外接电容，可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于积分器积分电容的精度，减少了对测试的影响环节，比较容易定标和校准，并且能实现较高的测量准确度，它不仅能画出铁电薄膜的电滞回线，还可以定量得到铁电薄膜材料的饱和极化ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流Ik等参数，以及对铁电薄膜材料铁电疲劳性能、铁电保持性能的测试。能够较全面准确地测量铁电薄膜的铁电性能。仪器采用一体化设计，实现测试结果全数字化，操作简单方便。

铁电材料参数测试仪主要是由正弦波、三角波、间歇三角波、梯形波发生器及正、负矩形脉冲和双极性双脉冲发生器外加铁电材料电滞回线、I-V特性及开关特性测量电路构成。适用于铁电薄膜、铁电体材料的电性能测量，可测量铁电薄膜电滞回线、I-V特性及开关特性，可准确地测出具有非对称电滞回线铁电薄膜的Pr值。可测铁电体材料的电滞回线及IV特性。同时也可作为一台通用信号发生器、高压信号发生器使用。

 

 

产品特点

l  电滞回线测量、铁电材料的饱和极化±Ps、剩余极化±Pr、矫顽场±Ec、电容量C等参数

l  铁电疲劳性能测量

l  铁电保持性能测量

l  电阻测量

l  漏电流测量

l  高精度三维移动平台

 

 

软件功能

HC5000系列测试系统的软件平台hacepro,采用labview系统开发，符合导体、半导体材料的各项测试需求，具备强大的稳定性与安全性，并具备断电资料的保存功能，图像资料可保存恢复，支持新的国际标准。兼容，XP、win7、win10系统。

友善的使用界面

多语界面：支持中文/英文 两种语言界面；

即时监控：系统测试状态即时浏览，无需等待；

图例管理：通过软件中的状态图示，一目了然，立即对状态说明，了解测试状态；

使用权限：可设定使用者的权限，方便管理；

故障状态：软件具有设备的故障报警功能。

 

 

硬件支持

l  集成Intel@Celeron1037U1.8GHZ双核处理器

l  集成打印机接口，最大可扩充8个USB接口

l  支持16G内存，60G固体硬盘，让系统运行更加流畅。

 

 

应用领域

l  铁电材料的电滞回线（动态与静态）、漏电流等特性。

l  测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应。

l  超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性。

 

 

技术参数

1、电压范围：±30V（可扩展至±4KV）

2、输出电流峰值：±1A

3、大负荷电容：1μF

4、动态电滞回线测试频率：0.001Hx～100kHz

5、铁电材料漏电流的测试：10pA～100mA

6、小脉冲宽度：25ns

7、上升时间：7ns

8、极化测试精准到：10fC

9、块体材料样品盒可进行室温～1200℃电滞回线测定

产品优势 本测试系统采用虚地模式测量电路，与传统的Sawyer-Tower模式相比，此电路取消了外接电容，可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于积分器积分电容的精度，减少了对测试的影响环节，比较容易定标和校准，并且能实现较高的测量准确度，它不仅能画出铁电薄膜的电滞回线，还可以定量得到铁电薄膜材料的饱和极化ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流Ik等参数，以及对铁电薄膜材料铁电疲劳性能、铁电保持性能的测试。能够较全面准确地测量铁电薄膜的铁电性能。仪器采用一体化设计，实现测试结果全数字化，操作简单方便。