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工具显微镜/测量显微镜
工具显微镜/测量显微镜是一种以光学(显微镜)瞄准和坐标(工作台)测量为基础的机械式光学仪器，可用于测量各种长度和角度，用于平面乃至三维数据的测量。特别适合于测量各种复杂的工具和零件，如螺纹、凸轮的轮廓、切削刀具和孔间距等。工具显微镜/测量显微镜主要分为:小型工具显微镜、大型工具显微镜、万能工具显微镜和重型万能工具显微镜等。
精品推荐
品牌： 上海长方 型号： JGX-2EA 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 JGX-2EA 数显型工具显微镜是一种最基础的精密光学测量仪器.仪器备有多种附件，从而使测量项目有所增加。并配备不同的放大倍率，以便对微小工件也能作精确的测定. 大型工具显微镜为机器制造工厂、科学研究机关及高等院校的计量部门广泛使用的一种多性能计量仪器。作为工具制造厂产品鉴定的基本工具,也适用于其它精密机械制造厂，科学研究单位及学校等，供生产或科学研究之用。
品牌： 上海长方 型号： 19JPC-1 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 19JPC-1 电脑型万能工具显微镜，是应用计算机辅助测量的新一代万能工具显微镜,能解决各种复杂的二维测量问题。传统的万工显对于视场中不能直接观测到的几何元素，如园心、中点.交点.中心线及其相互距离。夹角等等都很难进行测量，而在19JPC 仪器上均能迎刃而解。电脑型万能工具显微镜采用精密光栅传感器和PC系列微机以及数据接口卡采集测量数据，同时以19JPC二维测量程序进行数据处理、显示并打印测量结果
品牌： 上海长方 型号： 19JC-1 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 19JC-1 数字式万能工具显微镜以直观的数字显示和数字打印方式取代了普通万工显的目视读数方式，以影像法和轴切法按直角坐标与极坐标精确地测量各种零件，是机械加工企业、电子制造业、计量测试所广泛使用的多用途计量仪器。 数字式万能工具显微镜典型测量对象有： 测量各种成型零件如样板、样板车刀、样板铣刀、冲模和凸轮的形状。 测量外螺纹（螺纹塞规、丝杆和蜗杆等）的中径、大径、小径、螺距、牙型角。
品牌： 上海长方 型号： 107J-1 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 107J-1 普通型测量显微镜：采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。特别适用于电子行业，机械精加工。用来测量电子线路的宽度和精细小工件的几何尺寸，以及其它精密零件测。广泛地适用于计量室，生产作业线以及科学研究等部门。
品牌： 上海长方 型号： 15JE-1 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 15JE-1 数显型测量显微镜是光学计量仪器之一种，它的结构简单，操作方便，适用范围极广，主要用途如下： 1.直角座标中测定长度，例如测定孔距，基面距离，刻线距离，刻线宽度，键槽宽度，狭缝宽度，通孔圆直径等。 2.转动度盘测定角度，例如对刻度盘，样板、量规，钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。 3.数显型测量显微镜可用作观察显微镜，以比较检查工作表面光洁度，鉴定冶金工业的矿石标本。
品牌： 上海长方 型号： 15JA-1 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 15JA-1 测量显微镜是光学计量仪器之一，它结构简单、操作方便，适用范围极广，主要用途如下 1.直角座标中测定长度，例如测定孔距，基面距离，刻线距离，刻线宽度，键槽宽度，狭缝宽度，通孔圆直径 2.转动度盘测定角度，例如对刻度盘，样板、量规，钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。 3.测量显微镜可用作观察显微镜，以比较检查工作表面光洁度，鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版，检验纺织
品牌： 上海长方 型号： 15J-1 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 15J-1 普通型测量显微镜是光学计量仪器之一种，它的结构简单，操作方便，适用范围极广，主要用途如下： 1.直角座标中测定长度，例如测定孔距，基面距离，刻线距离，刻线宽度，键槽宽度，狭缝宽度，通孔圆直径等等。 2.转动度盘测定角度，例如对刻度盘，样板、量规，钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。 3.测量显微镜用作观察显微镜，以比较检查工作表面光洁度，鉴定冶金工业的矿石标本。
品牌： 上海长方 型号： 107JPC-1 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 107JPC-1 增强型测量显微镜：采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。特别适用于电子行业，机械精加工。用来测量电子线路的宽度和精细小工件的几何尺寸，以及其它精密零件测。增强型测量显微镜广泛地适用于计量室，生产作业线以及科学研究等部门。
品牌： 上海长方 型号： 107JC-1 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 107JC-1 电脑型测量显微镜：采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。特别适用于电子行业,机械精加工。用来测量电子线路的宽度和精细小工件的几何尺寸，以及其它精密零件测量。电脑型测量显微镜广泛地适用于计量室，生产作业线以及科学研究等部门。
品牌： 上海长方 型号： 107JA-1 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 107JA-1 数显型测量显微镜：采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。特别适用于电子行业,机械精加工。用来测量电子线路的宽度和精细小工件的几何尺寸，以及其它精密零件测量。数显测量显微镜广泛地适用于计量室，生产作业线以及科学研究等部门。
品牌： 上海长方 型号： 15JC-1 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 15JC-1 电脑型测量显微镜是光学计量仪器之一种，它的结构简单，操作方便，适用范围极广，主要用途如下： 1.直角座标中测定长度，例如测定孔距，基面距离，刻线距离，刻线宽度，键槽宽度，通孔圆直径等 2.转动度盘测定角度，例如对刻度盘，样板、量规，钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。 3.用作观察显微镜，以比较检查工作表面光洁度，鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版，检验纺织纤维
品牌： 上海长方 型号： JXB-CA 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 JXB-CA 电脑型读数显微镜是光学计量仪器之一，它的结构简单，操作方便，应用范围很广， 其主要用途如下： 1、作长度测定。如定孔距。基面距离刻线距离、刻线宽度以及通孔外圆的直径等。
品牌： 上海长方 型号： JXB-DA 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 JXB-DA 读数显微镜是光学计量仪器之一，结构简单，操作方便，应用范围很广， 其主要用途如下： 1、读数显微镜可作长度测定。如定孔距。基面距离刻线距离、刻线宽度以及通孔外圆的直径等。 2、读数显微镜能扩大一般显微镜使用范围，可在不同方向上测量。 3、读数显微镜可作观察显微镜，可判别矿石标本，检查印刷照像底板。由于测量架能脱 开底座，可固定在机床上直接对加工零件进行检查。
品牌： 上海长方 型号： WL-N 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 便携式读数显微镜 WL-20、WL-40、WL-50、WL-100能广泛应用于工厂生产现场的检验测量和实验室的观察研究，尤其适用于电子、机械制造业，纸张制造业，印刷业，纺织业等的生产现场检查。该产品体积小，重量轻，造型新颖，操作简便，也可供学生实验使用。
品牌： 上海长方 型号： JC4-10B 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 手持型读数显微镜结构简单、使用方便。可作测定孔距、刻线宽度、刻线距离、键槽宽度、狭缝凹痕、宽度、长度、金属表面质量、纤维、织物密度、野外标本等。 手持型读数显微镜尤其适合测量布氏、洛氏及维氏硬度试验压痕尺寸。
品牌： 上海长方 型号： JC-10B 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 便携式读数显微镜结构简单、使用方便。可作测定孔距、刻线宽度、刻线距离、键槽宽度、狭缝凹痕、宽度、长度、金属表面质量、纤维、织物密度、野外标本等。 便携式读数显微镜尤其适合测量布氏、洛氏及维氏硬度试验压痕尺寸。
品牌： 上海长方 型号： JC4-10A 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 手持型读数显微镜结构简单、使用方便。可作测定孔距、刻线宽度、刻线距离、键槽宽度、狭缝凹痕、宽度、长度、金属表面质量、纤维、织物密度、野外标本等。 手持型读数显微镜尤其适合测量布氏、洛氏及维氏硬度试验压痕尺寸。
品牌： 上海长方 型号： JC-10A 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 便携式读数显微镜结构简单、使用方便。可作测定孔距、刻线宽度、刻线距离、键槽宽度、狭缝凹痕、宽度、长度、金属表面质量、纤维、织物密度、野外标本等。 便携式读数显微镜尤其适合测量布氏、洛氏及维氏硬度试验压痕尺寸。
品牌： 上海长方 型号： IME-2 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 IME-2数显型工具显微镜能方便地读取数显表头示值，测量工件的孔径、孔距等尺寸以及角度、使用任选的目镜组还能检验螺纹以及齿轮形状等。数显型工具显微镜设计非常紧凑、重量轻、最适合设置在加工现场受到限制的场所。
品牌： 上海长方 型号： JGX-1A 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 小型工具显微镜JGX-1A是应用非常广泛的精密光学计量仪器之一。测量范围广、精确可靠、操作方便，因而特别适用于精密机械制造与工具制造工业。小型工具显微镜主要使用范围如下： 1.测定形状样板，样板刀等按照直角座标进行测定。 2.测定螺纹；螺纹的中径、外径、内径的测定，测定螺距，螺形角，螺形角对螺纹轴的轮廓位置和螺纹形状 3.测定角度：测定螺纹梳形车刀，螺纹铣刀的螺形角
品牌： 上海长方 型号： IMPC-1 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 IMPC-1 电脑型工具显微镜能方便地读取测微表头示值，配有高精度的工作平台,日本进口摄像器。可以直接在计算机屏幕上瞄准，无须人眼瞄准，减小人为误差。测量工件的孔径、孔距等尺寸以及角度、使用任选的目镜组还能检验螺纹以及齿轮形状等。电脑型工具显微镜设计非常紧凑、重量轻、最适合设置在加工现场受到限制的场所。 是一种理想的多用途的小型精密测量仪器。
品牌： 上海长方 型号： IMC-1 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 IMC-1 影像型工具显微镜能方便地读取测微表头示值，配有高精度的工作平台,日本进口摄像器。可以直接在计算机屏幕上瞄准，无须人眼瞄准，减小人为误差。测量工件的孔径、孔距等尺寸以及角度、使用任选的目镜组还能检验螺纹以及齿轮形状等。影像工具显微镜设计非常紧凑、重量轻、最适合设置在加工现场受到限制的场所。 是一种理想的多用途的小型精密测量仪器。
品牌： 上海长方 型号： IME-1 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 IME-1 数显型工具显微镜能方便地读取数显表头示值，测量工件的孔径、孔距等尺寸以及角度、使用任选的目镜组还能检验螺纹以及齿轮形状等。数显型工具显微镜设计非常紧凑、重量轻、最适合设置在加工现场受到限制的场所。
品牌： 上海长方 型号： JGX-2A 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 JGX-2A 型大型工具显微镜是一种最基础的精密光学测量仪器。备有多种附件，从而使测量项目有所增加。并配备不同的放大倍率，以便对微小工件也能作精确的测定。大型工具显微镜为机器制造工厂、科学研究机关及高等院校的计量部门广泛使用的一种多性能计量仪器。作为工具制造厂产品鉴定的基本工具，也适用于其它精密机械制造厂，科学研究单位及学校等，供生产或科学研究之用。
品牌： 上海长方 型号： JX14AC 产地：上海 供应商：上海长方光学仪器有限公司 JX14AC 数显型工具显微镜在机器制造厂、科学研究机关及高等院校的计量部门或车间检查站广泛就应用。数显型工具显微镜采用光栅尺作为长度测量传感器，长度值采用数字显示，具有较高的测量精度和操作效率。
品牌： 上海孚光精仪 型号： STM12 产地：德国 供应商：孚光精仪（香港）有限公司 工具测量显微镜,工具显微镜由中国领先的进口精密仪器和实验室仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售！孚光精仪精通光学,服务科学,欢迎垂询！工具显微镜是非接触式检测和二维精密测量的绝佳仪器,非常适合计量部门,科研院所,生产企业对小尺寸物体的检测工具显微镜可以装备数字测量头,CCD相机和数字交叉线产生器，显示器而组成2维可视系统。工具显微镜主要指标工具测量显微镜位移台行程：50x50mm工具显微镜工作距离：67mm 工具测量显微镜玻璃台尺寸：96x96mm工具显微镜最大工件高度：115mm工具测量显微镜最大工件重量：5kg工具测量显微镜放大倍数：30x (目镜15x, 物镜2x)工具显微镜显微镜体积：210x333x391mm工具显微镜重量： 13.5kg工具测量显微镜和欧洲进口的工具显微镜,是非接触式检测和二维精密测量的绝佳仪器,非常适合计量部门,科研院所,生产企业对小尺寸物体的检测
品牌： 日本奥林巴斯 型号： LEXT OLS4500 产地：日本 供应商：上海西努光学科技有限公司 LEXT OLS4500纳米检测显微镜为您带来最新的解决方案实现纳米级观测的新型显微镜。不会丢失锁定的目标。（电动物镜转换器切换倍率和观察方法）有涵盖了低倍观察到高倍观察的4种物镜，并在电动物镜转换器上装配了SPM单元。可以无缝切换倍率和观察方法，不会丢失观察对象。此外，该款显微镜可以进行纳米级观测。涵盖了低倍到高倍观察，并配有多种观察方法可以迅速发现观察对象。可以完成低倍到高倍的大范围倍率观察。不仅如此，先进光学技术打造的光学显微镜带来多种观察方法，可以容易的发现观察对象。此外，对于光学显微镜难以找到的观察对象，还可以使用激光显微镜进行观察。在激光微分干涉（DIC） 观察中，可以进行纳米级微小凹凸的实时观察。明视场观察（IC元件） 微分干涉（DIC）观察 激光微分干涉（DIC）观察缩短从放置样品到获取影像的工作时间。放置好样品后，所有的操作都在1台装置上完成。可以迅速，正确的把观察对象移到SPM显微镜下面，所以只要扫描1次就能获取所需的SPM影像。一体机的机型，所以无需重新放置样品只要在1台装置上切换倍率、观察方法就能够灵活应对新样品。OLS4500是把光学显微镜、激光显微镜、探针显微镜融于一体的一体机，所以无需重新放置样品，即可自由切换3种显微镜进行观察和评价。这3种显微镜各自持有优异的性能，所以能够高效输出最佳结果。 OLS4500实现了无缝观察和测量【发现】可以迅速发现观察对象使用光学显微镜的多种观察方法， 迅速找到观察对象OLS4500采用了白色LED光源， 可以观察到颜色逼真的高分辨率彩色影像。它装有4种物镜， 涵盖了低倍到高倍的大范围观察。OLS4500充分发挥了光学观察的特长， 除了最常使用的明视场观察（BF）以外， 还可以使用对微小的凹凸添加明暗对比， 达到视觉立体效果的微分干涉观察（DIC）， 以及用颜色表现样品偏光性的简易偏振光观察。此外， OLS4500上还配有HDR功能（高动态范围功能）， 该功能使用不同的曝光时间拍摄多张影像后进行合成， 来显示亮度平衡更好、强调了纹理的影像。在OLS4500上您可以使用多种观察方法迅速找到观察对象。 BF 明视场最常使用的观察方法。在观察中真实再现样品的颜色。适用于观察有明暗对比的样品。DIC 微分干涉对于在明视场观察中看不到的样品的微小高低差，添加明暗对比使之变为立体可视。适用于观察金相组织、硬盘和晶圆抛光表面之类镜面上的伤痕或异物等。简易偏振光照射偏振光（有着特定振动方向的光线），使样品的偏光性变为肉眼可视。适用于观察金相组织、矿物、半导体材料等。HDR 高动态范围使用不同曝光时间拍摄多张影像并进行影像合成，可以观察平衡度较好的明亮部分和阴暗部分。此外，还可以强调纹理（表面状态），进行更精细的观察。 使用激光显微镜，可以观察到光学显微镜中难以观察到的样品影像OLS4500采用了短波长405 nm的激光光源和高N.A.的专用物镜， 实现了优异的平面分辨率。能以鲜明的影像呈现出光学显微镜中无法看到的观察对象。在激光微分干涉（DIC）模式中还可以实时观察纳米级的微小凹凸。 明视场观察（玻璃板上的异物） 激光微分干涉观察【接近】迅速发现观察对象，在SPM上正确完成观察实现了无缝观察，不会丢失观察对象OLS4500在电动物镜转换器上装配了涵盖低倍到高倍观察的4种物镜， 以及小型SPM单元。在光学显微镜或激光显微镜的50倍、100倍的实时观察中， 由于SPM扫描范围一直显示于视场中心， 所以把观察目标点对准该位置后， 只要切换到探针显微镜， 就能够正确接近观察对象。因此， 只需1次SPM扫描就能获取目标影像， 从而能够提高工作效率并降低微悬臂的损耗。不会在SPM观察中迷失的、可切换式向导功能使用探针显微镜开始观察之前， 可以在向导画面上设置所需的条件， 如安装微悬臂、扫描范围等。所以经验较少的操作者也能安心完成操作。【纳米级测量】简单操作，可以迅速获得测量结果新开发的小型SPM测头， 减少了影像瑕疵新开发的小型SPM测头OLS4500采用了装在电动物镜转换器上的物镜型SPM测头。同轴、共焦配置了物镜和微悬臂前端，所以切换SPM观察时不会丢失观察目标点。不仅如此，新开发的小型SPM测头提高了刚性，所以与传统产品相比，减少了影像瑕疵并提高了可追踪性。使用向导功能，自由放大SPM影像使用向导功能， 可以观察时进一步放大探针显微镜拍到的影像的所需部分倍率。只要在影像上用鼠标指针设置放大范围并扫描， 就可以获取所需的SPM影像。可以自由设置扫描范围， 所以大幅度提高了观察和测量的效率。向导功能在10μm×10μm影像上放大3.5μm×3.5μm范围优异的分析功能， 应对各种测量目的曲率测量（硬盘的伤痕）OLS4500能够根据您的测量目的分析在各种测量模式中获取的影像，并以CSV格式输出测量结果。OLS4500有以下分析功能。截面形状分析（曲率测量、夹角测量）粗糙度分析形态分析（面积、表面积、体积、高度、柱状值、承载比）评价高度测量（指定线、指定面积）粒子分析（选项功能）跟从向导画面的指示， 可轻松操作的6种SPM测量模式接触模式控制微悬臂与样品之间作用的排斥力为恒定的同时， 使微悬臂进行静态扫描， 在影像中呈现样品的高度。还可以进行弯曲测量。 金属薄膜动态模式使微悬臂在共振频率附近振动， 并控制Z方向的距离使振幅恒定， 从而在影像中呈现样品高度。特别适用于高分子化合物之类表面柔软的样品及有粘性的样品。铝合金表面相位模式在动态模式的扫描中， 检测出微悬臂振动的相位延迟。可以在影像中呈现样品表面的物性差。高分子薄膜电流模式对样品施加偏置电压，检测出微悬臂与样品之间的电流并输出影像。此外，还可以进行I/V测量。 Si电路板上的SiO2图案样品。高度影像（左）中显示为黄色的部分是SiO2。在电流影像（右）中显示为蓝色（电流不经过的部分）。通过上图，可以明确电路板中也存在电流不经过的部分。表面电位模式（KFM）使用导电性微悬臂并施加交流电压， 检测出微悬臂与样品表面之间作用的静电， 从而在影像中呈现样品表面的电位。也称作KFM（Kelvin Force Microscope）。 磁带样品。在电位影像中可以看出数百mV的电位差分布于磁带表面。这些电位差的分布，可以认为是磁带表面的润滑膜分布不均匀。磁力模式（MFM）在相位模式中使用磁化后的微悬臂进行扫描， 检测出振动的微悬臂的相位延迟， 从而在影像中呈现样品表面的磁力信息。也称作MFM（Magnetic Force Microscope）。 硬盘表面样品。可以观察到磁力信息。装配了激光扫描显微镜，灵活应对多种样品轻松检测85°尖锐角采用了有着高N.A. 的专用物镜和专用光学系统（能最大限度发挥405 nm 激光性能），LEXT OLS4500 可以精确地测量一直以来无法测量的有尖锐角的样品。LEXT 专用物镜有尖锐角的样品（剃刀）高度分辨率10 nm，轻松测量微小轮廓由于采用405 nm的短波长激光和更高数值孔径的物镜， OLS4500达到了0.12 μm的平面分辨率。因此， 可以对样品的表面进行亚微米的测量。结合高精度的光栅读取能力和奥林巴斯独有的亮度检测技术， OLS4500可以分辨出亚微米到数百微米范围内的高度差。此外， 激光显微镜测量还保证了测量仪器的两大指标——“正确性”（测量值与真正值的接近程度）和“重复性”（多次测量值的偏差程度）的性能。 0.12μm行间距高度差标准类型B, PTB-5, Institut fürMikroelektronik, Germany, 6 nm高度测量中的检测从大范围拼接影像中指定目标区域高倍率影像容易使视场范围变小，而通过设置，OLS4500的拼接功能最多可以拼接625幅影像，从而能够获得高分辨率的大范围视图数据。不仅如此，还可以在该大范围视图上进行3D显示或3D测量。可用于传统的线粗糙度测量，也可用于信息量较多的面粗糙度测量 近年来， 工业产品越来越趋于小型化和轻量化， 所以构成产品的各种部件也越来越精细化。随着这些部件的精细化， 除了形状测量以外， 表面粗糙度测量的重要性也日益提高。为了应对这些市场需求， ISO规定的立体表面结构测量仪器中， 添加了激光显微镜和AFM（ISO 25178-6）。因此， 与传统的接触式表面粗糙度测量相同， 非接触式表面粗糙度测量也被认定为公认评价标准。OLS4500中配置了符合ISO规定的粗糙度参数。在面粗糙度测量中详细掌握粗糙度的分布和特点在非接触式表面粗糙度测量中， 除了线粗糙度还可以测量面粗糙度。在面粗糙度测量中可以掌握样品表面上指定区域内粗糙度分布和特点， 并能够与3D影像对照评价。OLS4500可以根据不同样品和使用目的， 分别使用激光显微镜功能或探针显微镜功能测量表面粗糙度。激光显微镜的面粗糙度测量（105μm×105μm）焊盘 探针显微镜的面粗糙度测量（10μm×10μm）OLS4500的粗糙度参数参数兼容性OLS4500具有与接触式表面粗糙度测量仪相同的表面轮廓参数，因此具有相互兼容的操作性和测量结果。截面曲线Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, PΔq, Pmr(c), Pδc, Pmr粗糙度曲线Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, RΔq, Rmr(c),Rδc, Rmr, RZJIS, Ra75波动曲线Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, WΔq, Wmr(c), Wδc, Wmr负荷曲线Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2基本图形R, Rx, AR, W, Wx, AW, Wte粗糙度 (JIS1994)Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp其他R3z, P3z, PeakCount适应下一代参数OLS4500具有符合ISO25178的粗糙度（3D）参数。通过评估平面区域，可以进行高可靠性的分析。振幅参数Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa功能参数Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2, Sxp体积参数Vv(p), Vvv, Vvc, Vm(p), Vmp, Vmc横向参数Sal, StrOLS4500的显微镜技术光学显微镜的原理和特长 明视场观察可以获取颜色信息。纸张上的墨点光学显微镜是从样品上方照射可见光（波长约400 nm到800 nm）， 利用其反射光成像， 能够放大样品数十倍到一千倍左右进行观察。光学显微镜的特长是可以真实观察彩色样品， 还可以切换观察方法， 强调样品表面的凹凸， 利用物质的特性（偏光性）进行观察。OLS4500上可以使用下述观察方法。明视场观察 最基本的观察方法，通过样品的反射光成像进行观察微分干涉观察 给样品表面的微小凹凸添加明暗对比，使之变为可视的立体影像简易偏振光观察 照射偏振光（有着特定振动方向的光线），把样品的偏光性变为可视影像激光显微镜的原理和特长可进行亚微米级观察和测量的激光显微镜（LSM:Laser Scanning Microscope) 激光显微镜的高精度XY扫描（示例） 光学显微镜的平面分辨率很大程度上取决于所用光的光子和波长，采用短波长的激光扫描显微镜（LSM）比采用可见光的传统显微镜，拥有更高的平面分辨率。LEXT OLS4500采用405 nm的短波长半导体激光、高数值孔径的专用物镜、以及独特的共焦光学系统，可以达到0.12 μm的平面分辨率。此外，OLS4500配有奥林巴斯独有的扫描加扫描型2D扫描仪，可以实现高达4096×4096像素的高精度XY扫描。 高度测量（微透镜） 激光显微镜采用短波长半导体激光和独有的双共焦光学系统， 会删除未聚焦区域的信号， 只将聚焦范围内的反射光检测为同一高度。同时结合高精度的光栅读取能力， 可以生成高画质的影像， 实现精确的3D测量。 探针显微镜的原理和特长可以观察纳米级微观世界的探针显微镜(SPM:Scanning Probe Microscope) 探针显微镜的原理 探针显微镜（SPM）是通过机械式地用探针在样品表面移动，检测出探针与样品之间产生的力、电的相互作用，同时进行扫描，从而得到样品影像。探针尖端曲率半径为10 nm左右。典型的探针显微镜是原子力显微镜（AFM），它通过检测探针和样品表面之间作用的引力和张力进行扫描并获得影像。探针显微镜能够观察纳米级微观形貌，可以捕捉到样品最精细的一面。通过微悬臂扫描进行纳米观察 SPM传感器光路图 OLS4500上采用了光杠杆法——通过高灵敏度检测出最前端装有探针的微悬臂的微小弯曲量（位移）来进行观测的方法。在悬臂的背面反射激光，并用压电元件驱动Z轴，使激光照射到光电检测器的指定位置，从而正确读取Z方向的微小位移。多种观察模式在影像中呈现表面形状和物性 高分子薄膜 探针显微镜拥有多种观察模式，可以观察、测量样品表面的形状，还可以进行物性分析。OLS4500配有以下模式。接触模式： 在影像中呈现表面形状（较硬的表面）动态模式： 在影像中呈现表面形状（较软的表面、有粘性的表面）相位模式： 在影像中呈现样品表面的物性差电流模式*： 检测出探针和样品之间的电流并输出影像表面电位模式（KFM）*： 在影像中呈现样品表面的电位磁力模式（MFM）*： 在影像中呈现样品表面的磁性信息* 该模式为选项功能。决定高精细度、高质量影像的微悬臂探针位于长度约100μm～200μm的薄片状微悬臂的前端。您可以根据样品选择不同的弹簧常数、共振频率。反复扫描会磨损探针， 所以请根据需要定期更换微悬臂探针。技术规格：主机 规格LSM部分光源、检出系统光源：405 nm半导体激光、检出系统：光电倍增管总倍率108～17,280X变焦光学变焦：1～8X测量平面测量重复性100x : 3σn-1=0.02μm、50x：3σn-1=0.04μm、20x：3σn-1=0.1μm正确性测量值的±2%以内高度测量方式物镜转换器上下驱动方式行程10mm内置比例尺0.8nm移动分辨率10nm显示分辨率1nm重复性100x :σn-1= 0.012μm、50x：σn-1＝0.012μm、20x：σn-1＝0.04μm正确性0.2+L/100 μm以下（L＝测量长度）彩色观察部分光源、检出系统光源：白色LED、检出系统：1/1.8英寸200万像素单片CCD变焦码变焦：1～8X物镜转换器6孔电动物镜转换器微分干涉单元微分干涉滑片：U-DICR、内置偏振光片单元物镜明视场平面半消色差透镜5X LEXT专用平面复消色差透镜20X、50X、100XZ对焦部分行程76 mmXY载物台100 x 100 mm（电动载物台）SPM部分运行模式接触模式、动态模式、相位模式、电流模式*、表面电位模式（KFM）*、磁力模式（MFM）*位移检出系统光杠杆法光源659 nm半导体激光检出设备光电检测器最大扫描范围X-Y：最大 30 μm x 30 μm、Z：最大 4.6 μm安装微悬臂在盒式微悬臂支架上一键安装。使用微悬臂安装位置调整专用工装夹具预对位，更换支架时无需光学调整。系统总重量约440 kg（不包含电脑桌）I额定输入100－120 V/220－240 V、600 VA、50/60 Hz
品牌： 日本奥林巴斯 型号： STM7 产地：日本 供应商：奥林巴斯（北京）销售服务有限公司 STM7显微镜具有优良的多用途性，能够以亚微米精度实现对零部件和电气组件的高性能三轴测量。无论待测样品是大的还是小的，测量内容是简单的还是复杂的，测量人员是新手还是专家，奥林巴斯STM7系列就是能满足您需求、为您量身打造的测量显微镜产品。
品牌： 日本奥林巴斯 型号： MX63/MX63L 产地：日本 供应商：奥林巴斯（北京）销售服务有限公司 让您的大尺寸样品检测流程更加顺畅 MX63和MX63L显微镜系统特别适合尺寸最大300毫米的晶圆、平板显示器、电路板、以及其他大尺寸样品的高质量检测。其采用的模块化设计可让您根据需要选择组件，获得根据应用定制的系统。 这两款符合人体工学设计且人性化的显微镜有助于在提高工作效率的同时保持检测者的工作舒适性。在与奥林巴斯Stream图像分析软件结合使用情况下，可以简化从观察到报告生成的整体工作流。
品牌： 日本奥林巴斯 型号： AL120 产地：日本 供应商：奥林巴斯（北京）销售服务有限公司 AL120晶圆搬送机可对应200mm以下晶圆尺寸的硅、化合物晶圆，可以安全高效搬送薄片晶圆，非常适合于前道到后道工程的晶圆检查。
品牌： 英国VISION 型号： Hawk Duo 产地：英国 供应商：英国工业显微镜有限公司上海代表处 适用于要求高质量和灵活性的应用中。Hawk Duo单个系统结合了光学测量和视频测量两种技术，因此，无论您测量什么样的部件，它都是最理想的选择。测量范围可达400mmx300mmDynascope光学显微镜技术能够提供清晰度无与伦比的图像，使测量得以精确、轻松地完成。集成了视频测量，实现终极控制功能和灵活性。英国工业显微镜有限公司将符合人机工学要求的测量显微镜与视频测量系统相结合，创造了Hawk Duo。Hawk Duo能够灵活测量常规和难以观察的部件，因此，无论您测量哪种部件，它都是最理想的选择。Hawk Duo 能够极其精确地重复性测量所有材质的复杂零件，在常规和难以观察的零件的测量方面特别突出，例如黑色或者透明塑料-这是多合一系统！两种测量系统二合一 - 扩展更多功能光学和视频双测量技术使得Hawk Duo成为以下应用情况下的理想之选检测那些边缘容易识别，但是某些特征难以观察的对象，例如：彩色塑料。同时需要常规测量和关键尺寸测量的对象，例如医疗器械。需要批量检测和一次性检测的零部件。系统详细信息* 相关配置。**以10倍微距物镜为基础（100倍系统放大倍率）。其中L=测得的长，单位mm（200倍系统放大倍率，采用受控条件）。
品牌： 英国VISION 型号： Swift PRO Cam 产地：英国 供应商：英国工业显微镜有限公司上海代表处 二维与三坐标高精度视频测量系统 非常适合测量小巧复杂零件 2D 特征 200mm x 100mm 精密测量台 放大倍率高达 100 倍 内置高清摄像头 视频边缘检测 (VED) 实现快速精准测量 操作非常简单，减少培训需要 轮廓投影仪或其他视频测量系统的理想升级替代之选
品牌： 日本奥林巴斯 型号： LEXT OLS5000 产地：日本 供应商：上海西努光学科技有限公司 LEXT OLS5000 3D测量激光显微镜配备的两套光学系统（彩色成像光学系统和激光共焦光学系统）让其能够获取彩色信息、高度信息和高分辨率图像。LEXT OLS5000 3D测量激光显微镜有4大关键价值：捕捉任意表面形状。快速获得可靠数据。使用简单 - 只需放置样品并按一下按钮即可。测量具有挑战性的样品。价值1：捕捉任意表面形状。 OLS5000显微镜的先进技术使其能够进行高分辨率的3D样品测量。价值2、快速获得可靠数据该显微镜的扫描算法既可提高数据质量又可提高速度，从而缩短您的扫描时间，简化您的工作流程，最终实现生产力的提升。价值3、使用简单，只需放置样品并按一下按钮即可LEXT® OLS5000显微镜具有自动数据采集功能，因而无需进行复杂的设置调整。 甚至生疏的用户也可以获得准确的检测结果。价值4、可测量具有挑战性的样品低输出、非接触式无损激光测量意味着不需要样品制备。可以在不损坏易损性材料的情况下对其进行测量。扩展架可容纳高达210毫米的样品，而超长工作距离物镜能够测量深度可达25毫米的凹坑。在测量这两类样品时，您只需将样品放在载物台上即可。[获取彩色信息]彩色成像光学系统使用利用白光LED光源和CMOS相机获取彩色信息。[获取3D 高度信息和高分辨率共焦图像]激光共焦光学系统采用405纳米激光二极管光源和高灵敏度光电倍增管获得共焦图像。浅焦深使其能够用于测量样品的表面不规则性。[405纳米激光光源]光学显微镜的横向分辨率随着波长的减小而获得提升。采用短波长激光的激光显微镜相比采用可见光（峰值550纳米）的传统显微镜具有更优的横向分辨率。 OLS5000显微镜利用405纳米短波长激光二极管获得卓越的横向分辨率。[激光共焦光学系统]激光共焦光学系统仅接收通过圆形针孔聚焦的光线，并非采集从样品上反射和散射的所有光线。这样有助于消除模糊，让其能够获得比普通显微镜对比度更高的图像[X-Y扫描仪]OLS5000显微镜配有奥林巴斯光学扫描仪。通过将采用电磁感应MEMS谐振扫描仪的X轴与采用Galvano扫描振镜的Y轴相结合，能够让X-Y扫描仪定位于相对物镜瞳镜共轭的位置，因而能够实现具有较低扫描轨迹失真和较小光学像差的卓越X-Y扫描。[高度测量原理]在测量高度时，显微镜通过自动移动焦点位置获取多个共焦图像。根据非连续的焦点位置（Z）和检测光强度（I）可以估算每个像素的光强变化曲线（I-Z曲线），并获得其峰值位置和峰值强度。由于所有像素的峰值位置与样品表面的不规则性相对应，因此可以获得样品表面的3D形状信息。与此类似，通过峰值强度数据可以获得针对样品表面所有位置焦点的图像（扩展图像）。主机规格：型号OLS5000-SAFOLS5000-SMFOLS5000-LAFOLS5000-EAFOLS5000-EMF总倍率54x - 17,280x视场直径16 μm - 5,120 μm测量原理光学系统反射式共焦激光扫描激光显微镜反射式共焦激光扫描激光-DIC 显微镜彩色彩色DIC光接收元件激光：光电倍增管（2ch）色彩：CMOS 彩色相机高度测量显示分辨率0.5 纳米动态范围16 位可重复性 n-1 *1 *2 *620x : 0.03 μm, 50x : 0.012 μm, 100x : 0.012 μm精度 *1 *3 *6测量值 +/- 1.5%拼接图像精度 *1 *4 *620x : 15+0.5L μm, 50x : 9+0.5L μm, 100x : 7+0.5L μm (L: 拼接长度 [μm])测量噪声（SQ 噪声）*1 *5 *61 纳米宽度测量显示分辨率1 纳米可重复性 3 n-1 *1 *620x : 0.05 μm, 50x : 0.04 μm, 100x : 0.02 μm精度 *1 *3 *6测量值 +/- 1.5%拼接图像精度 *1 *3 *620x : 15+0.5L μm, 50x : 9+0.5L μm, 100x : 7+0.5L μm (L: 拼接长度 [μm])单次测量时测量点的最大数量4096 x 4096 像素测量点的最大数量3600 万像素XY 载物台配置长度测量模块•无无•无工作范围100 x 100 mm 电动100 x 100 mm 手动300 x 300 mm 电动100 x 100 mm 电动100 x 100 mm 手动最大样品高度100 mm30 mm30 mm210 mm140 mm激光光源波长405 nm最大输出0.95 mW激光分类2 类 (IEC60825-1:2007, IEC60825-1:2014)彩色光源白光 LED电气功率240 W240 W278 W240 W240 W质量显微镜主体约 31 公斤约 30 公斤约 50 公斤约 43 公斤约 39 公斤控制器约 12 公斤
品牌： 日本奥林巴斯 型号： STM7 产地：日本 供应商：上海西努光学科技有限公司 通过整合光学显微镜和先进的测量能力实现精确测量多年的显微镜开发经验成就了优异的观察性能STM7奥林巴斯测量显微镜系列采用了当前最先进光学显微镜中所使用的UIS2无限远校正光学系统。因此，观察到的图像具有高分辨率和高对比度，此外，像差也被完全消除，以确保实现对微小细节的高精度测量。明场图像暗场图像微分干涉图像偏光图像花岗岩精雕细琢而成的载物台基座增强了测量的可靠性STM7-LFFEM分析为了进一步保证测量精度，STM7测量显微镜系列采用了一个配备花岗岩基座的高度耐用和防振动的镜架。由于花岗岩的高稳定性，使测量可到达亚微米水平，同时确保最大程度地降低误差。作为高度测量的先锋，继续提供简单易操作的高精度3轴测量共聚焦自动对焦系统光路随着现代制造技术日益小型化和精密化，高精度测量也日趋重要——不仅是XY轴平面的测量，而且Z轴方向的高精度测量也成为必须。奥林巴斯成为首家成功开发了测量显微镜用采用主动反射、共聚焦方法的自动聚焦系统的公司，以此响应了这种与日俱增的需求。严格的可追溯系统确保品质可靠奥林巴斯通过一个严格的可追溯系统控制测量显微镜的精确度。并且在安装系统时奥林巴斯也提供了可追溯的校准服务。测量显微镜跟踪系统STM7测量显微镜设计注重易用性提供载物台以适合眼下的样本大小[常见问题] 短测量行程无法满足较大样品的测量需求。 目前为止，大型载物台在X轴方向提供了足够的测量行程，但是Y轴的行程仍然较小。在测量过程中需要通过旋转样品来补偿比X轴覆盖范围要短的Y轴行程，这样的做法费事费时，效率不高。 由于可测量的范围窄，无法将数量较多的样品排列在载物台上，以实现一次性同时测量。[STM7解决方案] 共有四种独特的正方形测量行程的载物台可供选用，分别为：50 mm×50 mm、100 mm×100 mm、200 mm×200 mm和300 mm×300 mm。不管是大的样品还是小的样品，总有一款载物台会适合您要测量的样品。 采用离合器系统可以在粗调和微调之间实现快速切换。具备了这种切换功能之后，载物台也可以沿着X轴和Y轴方向迅速移动，并且可以在XY平面上自由穿梭。 300 mm长的方形载物台在X轴和Y轴方向上可以提供相同的测量行程，这意味着可以不旋转样品就实现大型样品的全部测量，比如300 mm的晶圆和印刷电路板。STM7-CS5050mm x 50mmSTM7-CS100100mm x 100mmSTM7-CS200200 mm x 200 mmSTM7-CS300300 mm x 300 mm使用相同的显微镜进行低倍率和高倍率观察[常见问题]大部分传统的测量显微镜只可以专用测量物镜或专用金相物镜，无法同时满足多种观察要求。[STM7解决方案]STM7测量显微镜可以通过安装一个测量物镜适配器使用测量物镜，而更换为物镜转盘后，便可使用金相物镜。这意味着， STM7将金相光学系统和测量光学系统同时结合在一台测量显微镜中。通过这种方式，无论是测量大型样品还是精细样品，或是表面高度差异大的样品，STM7系列都可以对应并协助用户选择最佳的观察方法。测量物镜由于测量物镜具有非常长的工作距离，因此可以在对表面起伏较大的样品进行聚焦的时候，无需担心物镜与样品之间发生接触。此外，借助测量物镜的低倍率能力，可以一次观察到较大的视场。金相物镜可以得到和光学显微镜相媲美的高倍率和高分辨率观察能力。更重要的是，在明场观察之外还可以对应暗场，偏光和微分干涉观察。明场图像暗场图像手动和电动调焦模式的选择STM7测量显微镜系列包括手动调焦和电动调焦两个系列对于Z轴的上下调焦，有手动型和电动型两种系列供您选择。请根据样品和测量内容选择符合您需求的机型，而不需要考虑载物台的尺寸。所有的镜架均内置Z轴线性标尺，各种型号STM7都可以对应3轴测量。手动Z轴调焦机型手动Z轴调焦机型提供了卓越的成本效益——通过操作被广泛使用的调焦旋钮，可以快速的上下移动Z轴。为测量具有各种高度样品的用户提供了方便。电动Z轴调焦机型使用电动调焦装置可以大幅提高操作性，并减少了进行聚焦和高度测量时的操作疲劳。粗微调焦的同轴旋钮设计使使用者可以以习惯的类似手动的方式进行操作，同时电动机型还可以配备自动聚焦单元。一个具有突破性设计的控制单元大幅提升了测量显微镜的操作性[常见问题] 增加功能时需要添置额外的操作单元。操作者需要同时操作多个单元而导致无法高效率地进行测量。操作时也经常会发生找不到操作单元的情况。 增加功能时需要添置额外的操作单元。操作者需要同时操作多个单元而导致无法高效率地进行测量。操作时也经常会发生找不到操作单元的情况。[STM7解决方案]控制装置对于STM7测量显微镜系列，只要使用单一的操作装置能够执行几乎所有的测量显微镜操作，包括重置计数器、照明控制、调焦和自动聚焦等功能。为了提高效率和方便性，您可以将装置放在任何想要放置的位置，并可以轻松地单手操作。用于手动Z轴调焦机型：STM7-HS手动操作装置用于电动Z轴调焦机型：STM7-MCZ电动操作装置控制箱各个单元的电源和通信均被集成在一个单一的控制箱中。即使是添加一些可选功能比如聚焦导航功能也不需要增加额外的电源装置，这样的设计可以最大程度地减少占用工作空间。大大提高了观察和测量效率的光源管理器[常见问题] 传统测量显微镜使用的模拟旋钮调节方式不能实现光强的定量控制。这样每次测量时的光强无法保持一致，导致测量值也发生变化。 使用传统测量显微镜时，每次切换物镜后都需要调节光强，这使得工作流程非常低效。[STM7解决方案]能够定量掌握光源亮度的数字式显示 STM7测量显微镜能够实现光强的定量数字化显示，保证了能在始终一致的照明条件下实施观察。物镜切换时，无需手动调节光强光强度管理器可以与编码物镜转盘配置配套使用。带编码物镜转盘会自动识别目前使用的物镜，结合光源管理器的预设值功能，可以为每个物镜注册照明方式和光强。这样每当切换物镜后，可以自动调节光强和调整照明方式。象以前每次切换倍率后手动调节光强的操作，现在就可以省略了。5倍强度5020X强度70100X强度120可以放置在任意方便使用地方的可拆卸计数器，确保能随时迅速地检查测量结果和设备状态。[常见问题] 需要检查诸如照明状态等设备运行状以及测量结果时，因为是在不同单元上显示使操作变得非常繁琐。[STM7解决方案]能一目了然确认当前状态的计数器计数器带有显示设备状态和设置的指示灯，可以简单的实现对设备当前设定状态的确认。X、Y和Z轴的最小单位可以在0.1 μm和1 μm之间切换，此外，还可以在毫米、微米、英寸和密耳之间切换显示单位。可满足个性化需求自由放置的可拆卸式计数器无论是安装在镜架上还是放置在工作台上，可拆卸式计数器都可以根据用户的使用状况和使用习惯放置在最佳位置。当用户站着进行测量时，可以将计数器安装在和观察位置大致相同高度的镜架一侧，以方便轻松的观察和检查结果。当用户通过数码相机在显示器上进行观察和测量，或使用电动Z轴调焦机型时，只需将计数器和操作装置放在工作台上即可轻松地坐在椅子上进行作业。计数器安装在镜架上计数器放置在工作台上高度测量：聚焦导航系统实现更快、更简单、更精确的高度测量[[常见问题]进行目视测量时，不同的操作者会测得不同的高度测量值。此外，这种测量方法非常耗时，效率低下。[STM7解决方案]具有优越的重复性、简单且高度精确的聚焦系统通过将图案投影在视场范围内，由操作者确认上下图案的重合情况，奥林巴斯的聚焦导航系统实现了重复性高的高度测量操作。普通的目测观察进行高度测量时，即使是看上去非常清晰的已经完全合焦的图像，也会出现微小误差。而使用STM7的聚焦导航系统，只需匹配标记便可进行测量，因此减少了操作者的主观性对测量结果造成的影响。目视高度测量聚焦导航系统焦点下方焦点位置焦点上方自动聚焦的优势成就快速、高精度的高度测量[常见问题] 进行目视测量时，不同的操作者得出的高度测量结果也会不一样。 手动高度测量需要操作者反复进行移动载物台，使用旋钮调焦的操作，这使测量既耗时又低效。 很难对微小的物体聚焦，比如引线。[STM7解决方案]快速、精准的聚焦和不受操作者主观影响的测量奥林巴斯开发了STM7系列专用的自动聚焦单元，该单元在实现快速聚焦的同时，保障了卓越的对焦重复性。因此，无论操作者的经验如何，均可以在很短的时间内实现高度精确的高度测量。无论操作者的经验如何，使用STM7专用自动对焦单元均可以在最短时间内实现高度精确的高度测量。即使是粗糙或倾斜的样品表面，利用主动反射、共聚焦方法都可以实现稳定对焦，而小直径的激光，也能保证对微小物体，比如引线的自动对焦。单次对焦模式执行自动聚焦后，可瞬间完成从大致的聚焦状态转为视场中心的清晰对焦。跟踪模式启用具有特色的追踪模式后会随样品表面的高低起伏自动对焦，即使在移动工作台的情况下，也可以始终保持合焦状态。这使得操作者在手不需要离开X和Y手柄的情况下也能实施观察，从而极大地提高了Z轴的测量效率。拓宽了测量观察范围的配件编码物镜转换器将编码物镜转盘与数码照相机配套使用可以在观察过程中在屏幕上显示物镜的放大倍率，以方便您记录倍率。同时切换倍率时也能与软件中记录的校准值和光强连动调整设置。有明场物镜和明暗场物镜两种供您选择。MM6-EMO正像单目镜筒正立图像用单目镜筒。可与MM6-OCC10×（带十字线的目镜）配套使用。STM7-FS脚踏开关实现了不需要用手进行数据传输，使操作者可以在手不离开X和Y手柄的情况下完成测量。SZ-LW61白光LED照明装置具有小型，轻便，使用寿命长，功耗低等特点。此外，这款高性价比的LED照明单元也不会发生闪烁和亮度波动。SZX2-ILR66+ SZX-RHS LED环形照明+手动控制装置SZX-RHS手动控制单元可以实现SZX2-ILR66反射LED环形照明装置的四段独立照明，并提供具有较高色温的清晰图像。可以从13种模式中选择最佳的照明。旋转载物台使用微调旋钮可以轻松实现对样品的平行对齐。STM7-RS100STM7-CS100 100mm×100mm载物台STM7-RS200STM7-CS200 200mm×200mm载物台STM7-RS300STM7-CS300 300mm×300mm载物台测量支持系统即使对复杂形状也能实现更快、更简单、更精确的测量对于显示测量显微镜输出的数据和图像来说，看的越清楚也就能更方便更快捷地使用和测量。为了支持高精度、高复杂性的测量，奥林巴斯测量软件可以和数码照相机结合使用。技术规格小型手动镜架STM7-SF小型电动镜架STM7-SFA中型手动镜架STM7-MF中型电动镜架STM7-MAF大型手动镜架STM7-LF大型镜架STM7-LFA显微镜镜架聚焦垂直移动范围175 mm145 mm最大的测量高度120 mm（配备测量物镜）175 mm（配备金相物镜）90 mm（配备测量物镜）145 mm*1（配备金相物镜）Z轴测量分辨率0.1 μmZ轴驱动方法手动同轴微调/粗调焦旋钮电马达驱动：●聚焦按钮：移动速度8 mm/s（最大）●微/粗调焦旋钮：微调焦速度（旋转一周移动量）有4档可供选择(800 μm，400μm,100 μm，50 μm)手动同轴微调/粗调焦旋钮电马达驱动：●聚焦按钮：移动速度8 mm/s（最大）●微/粗调焦旋钮：微调焦速度（旋转一周移动量）有4档可供选择(800 μm，400μm,100 μm，50 μm)手动同轴微调/粗调焦旋钮电马达驱动：●聚焦按钮：移动速度8 mm/s（最大）●微/粗调焦旋钮：微调焦速度（旋转一周移动量）有4档可供选择(800 μm，400μm,100 μm，50 μm)照明LED照明白色：用于反射光照明，绿色：用于透射光照明镜筒正像单目镜筒，正像三目镜筒(100:0/0:100)物镜测量显微镜用MM6-OB系列金相显微镜用MPLFLN 系列, LMPLFLN 系列, MPLFLN-BD 系列, LMP LFLN-BD 系列目镜 MM6-OCC10X (带十字线, FN 22), MM6-O C10X (FN 22) 载物台测量范围STM7-CS50:X轴 50 mm, Y轴 50 mmSTM7-CS100:X轴 100 mm, Y轴 100 mmSTM7-CS200:X轴 200 mm, Y轴 200 mmSTM7-CS300:X轴 300 mm, Y轴 300 mm测量精确度(L：测量长度)STM7-CS50: (3+L/50) μmSTM7-CS100: (3+2L/100) μm(3+4L/200) μm(3+6L/200) μm精确度保证重量STM7-CS50: 5 kgSTM7-CS100: 6 kg10 kg15 kg计数器显示 轴数3轴单位毫米/微米/英寸/密耳 最小分辨率0.1 μm 外形尺寸（宽×长×高）（mm）466 x 583x651466 x 583 x 811606 x 762 x 651606 x 762 x 811804 x 1024 x 686804 x 1024 x 844重量约84 kg约92 kg约152 kg约159 kg约277 kg约284 kg额定功率100-120/220-240V ~50/60Hz0.3A/0.2A100-120/220-240V ~ 50/60Hz0.6A/0.35A100-120/220-240V ~ 50/60Hz0.3A/0.2A100-120/220-240V ~ 50/60Hz0.6A/0.35A100-120/220-240V ~ 50/60Hz0.3A/0.2A100-120/220-240V ~ 50/60Hz0.6A/0.35A*1 使用大型镜架STM7-LF/STM7-LFA时，可以将高度为100 mm或以下的样品放置在光轴后方180 mm或以上距离的地方。物镜工作距离 倍率1x3x5x10x20x50x100x物镜测量物镜MM6-OB系列 59.676.865.450.5---金相物镜MPLFLN系列明场--20.011.03.11.01.0LMPLFLN系列长工作距离--22.521.012.010.63.4MPLFLN-BD系列明场/暗场--12.06.53.01.01.0LMPLFLN-BD系列明场/暗场长工作距离--15.010.012.010.63.3
品牌： 苏州欧米特 型号： MT-300 产地：苏州 供应商：苏州欧米特光电科技有限公司 欧米特工具镭射盲孔残胶漏铜测量显微镜MT-300 创新图像处理技术，获得更精细的动态图像，测量数据直接发送至Aout CAD中， 测量数据及时传输到Word/Excel，以便实时分析，强大的元素测量功能。 ■ 全新的光路设计无限远校正光学系统，光效率更高，采用长寿命LED光源， 提供出色的图像质量。
品牌： 苏州欧米特 型号： CMT系列超大尺寸液晶面板COG导电粒子微分干涉A检查显微镜 产地：苏州 供应商：苏州欧米特光电科技有限公司 CMT系列超大尺寸液晶面板COG导电粒子微分干涉A检查显微镜
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