显微分析系统提供商牛津仪器纳米分析部发布了新款基于扫描电镜的硅漂移探测器——Xplore系列。Xplore系列是对去年发布的Ultim系列探测器(包括获得女王奖章的无窗探测器Ultim Extreme)的有力补充。
Xplore系列的问世进一步丰富了纳米分析部的EDS产品线,意味着实时元素成像功能AztecLive已经推广到所有的牛津仪器的EDS产品中。Xplore系列探测器采取精巧的设计,晶体活区面积有20mm2和35mm2两种,配合多样化的软件功能选择可以满足不同客户的要求。
Xplore系列的设计力求满足不同客户的需求,可用于多个领域,比如失效分析、质量控制、假冒伪劣产品或专利侵权产品的鉴别。Xplore探测器可以选择不同晶体面积,所配置的软件也可根据客户的需求和使用者的经验进行选择。
牛津仪器EDS产品经理Anthony Hyde是这样评价这款探测器的,“这款产品的出现意味着我们最终完成了EDS产品线的部署,是一件令人振奋的事情。Xplore系列代表了牛津仪器产品质量的最佳水准,成功地将质量和可靠性融入到这款设计精巧的探测器上,提升了常规SEM的需求。”