Park邀请您共聚第二十二届全国半导体物理会议

  全国半导体物理学术会议是由中国物理学会半导体物理专业委员会主办的全国性会议，最早由已故世界著名物理学家、国家最高科学技术奖获奖者黄昆院士于1978年倡导召开，每两年举行一次（奇数年召开），与两年一次的国际半导体物理会议（偶数年召开）交错进行。

  会议宗旨是促进国内半导体物理研究领域的学术交流，把握国际重大前沿领域的发展动向，提升国内半导体物理及相关学科的国际影响力。帕克原子力显微镜的品牌创始人及CEO Sang-il Park博士受邀在大会开幕式当天参加这次物理学术会议的大会报告。

Park博士的报告主题为“Advanced Atomic Force Microscopy for Semiconductor Metrology“

日期 : 7月10日-12日 （周三-周五）

时间: 8:30-18:00 

地点 : 杭州市萧山区湘湖路92号，杭州第一世界大酒店

帕克原子力显微镜展位：A1

SPC 2019的介绍:

本届会议由浙江大学物理学系和浙江大学硅材料国家重点实验室承办，将于2019年7月9 ~ 12日在杭州第一世界大酒店召开。朱邦芬院士、黄如院士、杜瑞瑞教授、段镶锋教授、熊启华教授、彭笑刚教授、陆卫教授、陆朝阳教授等知名学者将莅临本届会议并作大会特邀报告。本届会议期间，还将公布2017-2018年度黄昆物理学奖（两年一度）的获奖人，获奖学者将就获奖工作做专题报告。

会议地址 :http://www.spc2019.org/

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