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两个领域范畴：
■1）（研制保证与供应）质量等级：根据元器件在设计、制造及 检验过程中质量控制水平的高低程度来区分其质量档次的等级。
■2）（系统可靠性预计）质量等级：在特定应用环境下用于可靠 性预计计算元器件工作失效率时用于区分不同质量档次的等级。 （GJB299《电子设备可靠性预计手册》）
■第二个领域的质量等级主要是单机设计师进行系统设计计算、分配单机可靠性指标时涉及，使用面较为狭窄；而第一个领域 的质量等级涉及方方面面，包括承制方、选用方、质量保证方 等不同对象，故通常所说的质量等级大部分情况下指前者。
区别：
■质量等级，代表了产品的质量和可靠性水平。
■质量等级的两种表征方式：
■（一）失效率等级：L、M、P、R、S;例M: （0.1 〜1）%/I000h 常用 指数分布 模型计算，个别专业（如钽电解电容器）采 用 威布尔分布 模型计算。
■（二）质量保证等级：指产品通用（总）规范中规定的产品设 计、制造、检验和试验的控制等级。
■a）分档次的质量保证等级；
■ b）单一质量保证等级。
I对于结构较为简单的元器件，其产品寿命分布模型为指数分布 或威布尔分布时，可采用失效率等级表征质量等级，采用失效 率等级表征质量等级是较为理想的方式，较为直观、易用；
■对于结构较为复杂的元器件，其不同档次产品的失效率模式可能多种多样、失效率也不具有线性特性，此种情况下无法确定 产品的失效率等级，只能用质量保证的严酷程度即质量保证等 级来确定质量等级。
■具体使用何种质量等级表证方式来界定元器件的质量水平，由 相关元器件的标准体系确定（不同的标准体系，对于质量等级 的规定存在较大的差异）。
来源：
■1）第一类来源：标准体系中相关通用规范规定狭义的（经典的） 质量等级来源于本模式，即相关元器件标准体系中通用规范规 定要求的质量等级。由于有相关元器件标准
体系的支撑，使用 面较为广泛，此种模式来源的质量等级是日常工作中实际接触 各种质量等级的平台来源，是在质量等级领域进行标准化的主 要成果。
■元器件除各方公认的元器件标准体系中相关通用规范规定的质 量等级外，现实中还存在其它来源的 质量等级 。
■2）第二类来源：由承制方自行定义要求的质量等级。实际情况 中，有几类情况，包括：
■a）相关元器件标准体系中无适用通用规范，只能自定义等级；
■b）承制方达不到相关元器件标准体系中通用规范规定的要求， 只能自行定义质量等级；
■c）承制方可以实现相关元器件标准体系中通用规范规定的技 术要求，但没有进行认证的产品，承制方自定义其质量等级；
■d）相关元器件标准体系中关于特定质量等级的规定不合理， 承制方根据实际情况增加要求后，自行定义的质量等级。
■3）第三类来源：用户定义对于用户的特定应用，已有质量等级 不满足应用要求，用户自定义的质量等级。
■上述各类质量等级中，第一类来源是主体，日常接触中大多数 质量等级都是这类情况，但由于各种原因，第一类来源的质量 等级在诸多情况下并不能满足所有应用（如质量控制水平偏低、 偏高或者适用性不佳、产品体系不全等），故第二、第三类来 源的质量等级在实际工作中均是客观存在的，第二、第三类来 源质量等级中的大部分情况是基于第一类质量等级进行增删后 确定的质量等级。
附录：质量等级清单（部分）
■电阻器
GJB244 （薄膜）：T、S、R、P、M、C GJB2828 （功率线绕）：J GJB920 （网络）：M、C GJB 6787 （OOhm片膜）：T、H、C ■电容器
GJB 63 （固钽）：D、C、B、S、R、P、M GJB 191 （云母）：T、S、R、P、M、C GJB 192 （多层片瓷）：S、R、P、M、C
■分立器件
MIL-PRF-19500: JANS、JANTXV、JANTX、JAN
GJB33: JY、JCT、JT、JP
QJB: (QJB)JCT、JT、JP; J
QZJ840611/A: G
■真空电子器件
GJB3312: J
■光电子器件 GJB8119: Gl、G2、G3
■集成电路
MIL-PRF-38534: K、H、G、E、D MIL-PRF-38535: V/S、Q/B、N、T、M ESCC GS No.9000/9010: B
GJB597(QPL): S、BG、B;GJB 7400(QML): V、Q、N、T
GJB2438: K、H、G、D; SJ 20668: J
LMS: G、G+、B/K、K+; CAST: A、B、C; SAST: SAST.
QJB: (QJB)B. H; J
QZJ840613: G
■继电器
GJB 65: R、P、M、L GJB1042: J
GJB 1515 （固体）：丫、W ■连接器 GJB 599: J
■微波元件：
GJB 1426 （功分/合成）：J
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