低温霍尔效应测量磁场应用

低温霍尔效应测量磁场应用 KANG Static Insert SN 150
上海伯东代理英国 NanoMagnetics 仪器霍尔效应测量系统为 Van der Pauw 和 Hall Bar 测量提供了一个创新的解决方案. 可用于测量半导体材料的载流子浓度, 迁移率, 电阻率, 霍尔系数, 导电类型等重要参数, 是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性的必备工具.
如下是某知名大学低温霍尔效应测量案例
1. 测试样品: NMI 标准样品, P15-A
2. 应用电流 1e- 4a
3. VDP 测量的外加磁场为 1T
4. 在 1.5K 时, 磁场扫描 为 0 - 5T - 0 循环
测试仪器

温度范围在 80 - 750K, 分辨率 0.2 K, 单一系统 Pt - 100 电阻温度计, 750 K 加热器, PID 温控 样品尺寸 从 5 x 5 mm 至 15 mm x 15 mm 并且厚度 2 mm

冷却和加热图显示了相同的结果, 因此, 塞诺克斯传感器和样品根据静态插入的位置是合适的, 否则图就不一样了. 此外,测量结果是可重复的. [I+I-V+V-] 触点引线为 [1-2-4-3]

电话：+86-21-5046-3511
邮箱：ec@hakuto-vacuum.cn
地址：上海市浦东新区
新金桥路1888号36号楼7楼702室
201206
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