当前位置: 首页 » 新闻资讯 » 厂商 » 正文

分析设备介绍

分享到:
放大字体  缩小字体    发布日期:2019-03-15  来源:仪器信息网  作者:Mr liao  浏览次数:676

EPMA电子探测X射线微量分析仪

用途: 可定性定量分析SEM图像上的化学元素及指定元素的毛刺发生可能性。
(放大倍数:40~3000倍)


SEM(电子扫描型显微镜)

用途: 从剖面观察角度来判断焊料合金的焊接状态(开裂、空洞、合金层),
焊料的表面观察以及元件的剥离情况等。
(放大倍数:20~3000倍)

 
 
打赏
[ 新闻资讯搜索 ]  [ 加入收藏 ]  [ 告诉好友 ]  [ 打印本文 ]  [ 违规举报 ]  [ 关闭窗口 ]
免责声明:
本网站部分内容来源于合作媒体、企业机构、网友提供和互联网的公开资料等,仅供参考。本网站对站内所有资讯的内容、观点保持中立,不对内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。如果有侵权等问题,请及时联系我们,我们将在收到通知后第一时间妥善处理该部分内容。
 

分析设备介绍二维码

扫扫二维码用手机关注本条新闻报道也可关注本站官方微信账号:"xxxxx",每日获得互联网最前沿资讯,热点产品深度分析!
 

 
0相关评论