当前位置: 首页 » 新闻资讯 » 厂商 » 正文

工具显微镜测量自动对焦的原理

分享到:
放大字体  缩小字体    发布日期:2019-03-15  来源:仪器信息网  作者:Mr liao  浏览次数:341
(本网站任何文字信息由上海光学仪器厂版权所有, 转载请注明本站网址http://www.sgaaa.com)

上光仪器-工具显微镜自动对焦的原理

自动对焦的原理

系统可进行XY水平量测。但是仅凭CCD摄像机影像,系统
无法进行高度量测。系统通常都具备自动对焦机制,用于高度
测量。以下向您介绍使用普通影像的自动对焦机制,虽然有些
系统可能使用激光自动对焦。

系统沿着Z轴上下移动CCD,进行影像分析。在分析影像对比时,清晰
的影像表示对比值较大,模糊的影像表示对比值较小。
因此影像对比度最高时的高度即为焦距高度。

 
 
打赏
[ 新闻资讯搜索 ]  [ 加入收藏 ]  [ 告诉好友 ]  [ 打印本文 ]  [ 违规举报 ]  [ 关闭窗口 ]
免责声明:
本网站部分内容来源于合作媒体、企业机构、网友提供和互联网的公开资料等,仅供参考。本网站对站内所有资讯的内容、观点保持中立,不对内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。如果有侵权等问题,请及时联系我们,我们将在收到通知后第一时间妥善处理该部分内容。
 

工具显微镜测量自动对焦的原理二维码

扫扫二维码用手机关注本条新闻报道也可关注本站官方微信账号:"xxxxx",每日获得互联网最前沿资讯,热点产品深度分析!
 

 
0相关评论