穿透式电子显微镜高分辨力应用于材料微观结构

穿透式电子显微镜高分辨力应用于材料微观结构

而原子力显微镜(AFM)具有原子级的解像能力，可应用于各种材料之微观结构，
能提供材料表面的高分辨影像，故本研究使用 AFM 的研究技术，
来观察经热处理后的成核-晶体成长试片之表面，进行奈米微观结构之观察与成核密度之分析，

具有可透光性、超平坦表面、晶粒径效应等特性之透光莫来石玻璃陶瓷，
其制程是将原始成分玻璃(SiO2-Al2O3-B2O3-ZnO-K2O)经成核-晶体成长之两阶段热处理，

于玻璃基地中生成具有奈米级晶粒且主结晶相为莫来石之玻璃陶瓷，

其特点是具有奈米微观结构，此微观结构是由极高成核密度所达成。
对于成核密度较低、晶粒较大(~1μm)的玻璃陶瓷，

可利用光学显微镜(OM)或扫描式电子显微镜(SEM)来观察晶体，

另外穿透式电子显微镜(TEM)虽然有高分辨力，

但高能量的之电子束常使微小晶体在观察时产生变化。