关于测量工件显微镜的光学原理中光源的介绍

关于测量工件显微镜的光学原理中光源的介绍

光 
有绝佳的轮廓线。
可用在半透明工件。
无法得知工件表面的颜色，瑕疵和高低。

同轴光 
可使表面结构倍强调。
表面有不平的地方会变暗。
突显半透明的工件。

均匀光 
不再加以强调表面结构。
提高工件吸收光线的对比。
高度的效果会降低。

低角光 
强调高度变化。
有高低不平的表面会变亮。
平坦光滑的表面会变暗。
外形和轮廓被强调。

複合光 
可测得高度的变化。