当前位置: 首页 » 新闻资讯 » 厂商 » 正文

扫瞄穿隧式显微镜的原理

分享到:
放大字体  缩小字体    发布日期:2019-03-15  来源:仪器信息网  作者:Mr liao  浏览次数:738
(本网站任何文字信息由上海光学仪器厂版权所有, 转载请注明本站网址http://www.sgaaa.com)

扫瞄穿隧式显微镜的原理-精密光学仪器常识

原子力显微技术

原子力显微镜

自从 1982 年扫瞄穿隧式电子显微镜(STM)发明之后,开启了可以直接探索原子尺度的表面结构,
方便我们取得样品表面的影像,
此后各式不同功用的扫瞄探针显微镜(SPM)也相继不断地被发展出来,

而以 1986 年所发明的原子力显微镜(AFM)用途最广。

由于扫瞄穿隧式显微镜是使用量子穿隧效应做为回馈控制的讯号,样品需为导体或半导
体,且系统要求需在高真空环境下进行,才能使影像的解析度更好,
但也降低了其实用性与便利性。

然而原子力显微镜,它可在大气环境及液体下操作,受测样品不须具有导电性,所以研究及应用的领域范
围就更加宽广,
加上它的解析度也可达到奈米级,对微区结构的表面几何形貌、粗糙度等特性,提供了微小量技术的主要利器。
尤其对于传统扫瞄电子显微术无法清楚解析之样品,更是最佳的检测工具

AFM 仪器系统架构,分为三个主要部分:扫瞄控制主体系统、电子控制系统、及隔离防震系统

 
 
打赏
[ 新闻资讯搜索 ]  [ 加入收藏 ]  [ 告诉好友 ]  [ 打印本文 ]  [ 违规举报 ]  [ 关闭窗口 ]
免责声明:
本网站部分内容来源于合作媒体、企业机构、网友提供和互联网的公开资料等,仅供参考。本网站对站内所有资讯的内容、观点保持中立,不对内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。如果有侵权等问题,请及时联系我们,我们将在收到通知后第一时间妥善处理该部分内容。
 

扫瞄穿隧式显微镜的原理二维码

扫扫二维码用手机关注本条新闻报道也可关注本站官方微信账号:"xxxxx",每日获得互联网最前沿资讯,热点产品深度分析!
 

 
0相关评论