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铜及铜合金展伸晶粒尺寸测量金相分析显微镜

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放大字体  缩小字体    发布日期:2019-03-15  来源:仪器信息网  作者:Mr liao  浏览次数:506

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铜及铜合金展伸晶粒尺寸测量金相分析显微镜

1.范围
铜及铜合金展伸材料之α相经退火后之晶粒尺度测定法及其表示法。

2. 晶粒之定义
含有双晶之晶粒者,视为单一结晶之晶粒,除α相外,若有其他微量β相、铅粒子、
金属间化合物时,仅以α相表示其晶粒尺度。

3. 试样及其处理
由材料上采取具有代表性之试样,以电解或机械方法研磨,再以电解或化学方式蚀刻,使晶粒组织呈现以供判定。

4. 晶粒尺度之表示法
(a)晶粒尺度以mm表示(1)。
晶粒尺度的计算值或观测值之修整依下列方法表示:
(1) 0.010 mm以下者,以最接近0.001 mm之整数倍值表示。
(2) 超过0.010 mm,0.060 mm以下者,以最接近0.005 mm之整数倍值表示。
(3) 超过0.060 mm者,以最接近0.010 mm之整数倍值表示。
注(1) 例如以0.025 mm表示。
(b)晶粒度不均匀,不适用单一表示时,可以二种晶粒尺度所占面积的推定百分比表示。
注(2)例如以0.015 mm有30 %,0.070 mm有70 %表示

 
 
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