电子显微镜借助波长极短的光源可观察分子的结构

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电子显微镜借助波长极短的光源可观察分子的结构

全像显微术

一般的显微镜因为焦深短的限制，无法观察到非常小的物体，
但全像术应用到显微镜的话，焦深可以到极小。

此外，若采用成波长极短的光源，那我们甚至可以直接观察分子的结构。其方法为，
先对要看的对象物拍一张全像照片，由于在光
学性质上，全像片和实物完全一样，所以，现在你可以慢慢的用显微镜去聚焦此
像中任何一个地方，不必担心看完这一点之后，再看另一点时，另一点的状态早
已由于时间的推移而改变了；也不必担心对象物跑出了聚焦范围。

全像摄影方便了我们的生活。举例来说它可以做一些检验的工作，称非破坏性检
验（nondestructive testing）首先先拍下受检物体在正常状态下的全像片，但暂时
不冲洗。然后对被检验物施压、破坏或加热，此时再点亮雷射，重新让感光片再
感光一次，也就是用同一张底片拍两张全像片（就是双重曝光）。冲洗之后经雷
射光照射，这全像片就会显示出被检验物体的像，仔细看一下，像上还会有一系
列的条纹。如果被检验物品没有破损和瑕疵（如微小裂缝），这些条纹通常是连
续不间断的；但如果被检验物品之近表面处有破损或瑕疵，条纹通常便会断裂，
专家们便可依据这些条纹的形状判别其中有无损伤。
另外还有一种检验方法，就是当第一次拍摄完毕后，立即冲洗感光片。同时，对
被检验物加压或加热，并点亮雷射看全像片，此时我们所看到的被检验品，就会
发现其上也有条纹。专家们也是根据此条纹的形状，可推断其中有没有破损和瑕
疵。这种检验法称为“即时检验法”。它的优点为：除了可发现物体有无破损之
外，还可以追踪物体在被加压或加热的过程中，所发生前后的状态以及最先发生
破坏的地方；然后据此以改良物品的设计。
缺点则为条纹的深浅亮度对比没有双重曝光法那么好