金相学研究显微镜

金相学研究显微镜-金属构造及熔点测量仪

索比的金相技术，长久以来，对于决定晶粒的形状和大小，
辨明外来质点和沿着晶粒边界的杂质膜，以及观察合金的微观结构等，
颇有价值。然而，光性金相学（Optical metallography；即是以光学显微镜来观察，
研究金属构造的一门学问）却无法决定晶粒边界的结构──一般相信，

金属在熔点之下冷却时，相邻的晶粒会逐渐使存在于其间的原子结晶化，
最后使得边界仅剩下一道界面，约一两个原子的宽度；
而在此界面的两侧，晶轴的走向截然不一。

最近，晶粒边界的结构图样，已由场离子显微镜（Field ionmicroscope）测出。
以这种由宾州州立大学米勒（Erwin W. Muller）教授所发明的仪器探测时，
先将针形金属试品，轴地夹在真空管中

（仅露出尖端，并通以极高的正电压（如此，则电力线由此尖端辐射而至荧光幕上），再放进微量的气体，

如氦。当一个氦原子接触到针尖上的一个金属原子时，它变成正离子，
并且立刻被排斥而沿着一定的电力线射到荧光幕上，形成一个可见的点像。
大约针尖上一个原子的宽度，能够在荧光幕上发射成一平方毫米的区域，
因此我们可以从荧光幕上“看见”针尖的原子结构
滑脱与金属的塑性