光学显微镜检测不同陶瓷的显微结构特征和晶粒

光学显微镜检测不同陶瓷的显微结构特征和晶粒

  许多共他方法对测定陶瓷材料的相分布、形貌及特性是有用的。
相显微检查技术使深度分辨力大大增加。对抛光切片或薄切片采用偏
振光，则有助于相的鉴别。

  立体显微术、X 射线显微术、暗视场电子显微术、以及许多其他
特殊方法都是有用的，并应对每一个特殊问题考虑可行的方法。

  最适宜的方法因样品而异，而且任一普通规则都可能遭遇到许多
例外。

  对大多数研究目的来说，制备抛光切片并用光学显微术或扫描电
子显微术和X 射线衍射或显微相鉴定法检验抛光切片，构成一个良好
的基本检测程序

  陶瓷导论所依据的主要原理之一是陶瓷制品的性质不仅取决于相
的组成和结构，还取决于相的排列。

  成品的相分布或显微组织取决于初始的制造工艺、所采用的原料、
相平衡关系以及相变动力学、晶粒长大和烧结。

  能测定的显微组织的特征是

  （1 ）现有的相的数目和识别，包括孔隙在内，

  （2 ）每一个相的相对数量，

  （3 ）每一个相的特征，例如相的大小、形状和取向

  研究显微组织的方法。研究显微组织采用过许多不同的方法，最
广泛使用的两种光学方法是：用透射光观察薄切片和用反射光观察抛
光切片。薄切片法采用光线透过0.015~0.03毫米厚的切片。

  制备切片时，从材料上切下一个薄片，将薄片的一面抛光，把这
个面粘在显微镜的载玻璃上，然后将另一面研磨并抛光，以得到所要
求的均匀厚度的切片。这种方法的优点是，能测定每一个相的光学性
质，从而鉴定出所有的相。这个方法有两个

  主要缺点：第一，样品制备困难；第二，许多细品粒陶瓷材料的
个别晶粒，其尺寸小于切片厚度，这将引起混乱，尤其对于一个不熟
练的人更是如此。总之，需要有相当的经验才能最好地利用薄切片法。

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