颗粒投影测量光学显微镜

颗粒投影测量光学显微镜-球形颗粒的样品

  有些样品如泥质胶结的砂岩，不易松解。要侧量其中砂粒的粒度，
可将砂岩直接磨成片状样品，用反射显微镜（金相显微镜）测量。此外，
对较粗的粉末，也可在务使分散的条件下，将颗粒包埋在树脂类物质中
成为块状样品，磨光后对磨光面进行观察测量。此时应注意所谓截面效
应的问题。透射显微镜测的是颗粒的投影像，而反射显微镜测量的是块
样的磨光表面（即光反射面）对于颗粒所截的轮廓像。对于包埋着许多
球形颗粒的样品，磨光表面所截的国的直径会普遍小于球粒直径。

  制备样品时的揉研非常重要。若不适当，则颗粒不但达不到分散，
反而会团聚。并且要注意不要使较大颗粒被推移到载片的边缘，以免影
响被观测颗粒的代表性。此外，若颗粒较脆而且较大时，揉研不当会导
致颗粒粉碎。这时应采用其它方法。

  例如先制成分散良好的悬浮液，然后喷到载片上。

  制备显微镜样品还可用其它各种不同的方法，

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