金相显微镜下测量金属镀层的厚度

金相显微镜下测量金属镀层的厚度-测量仪器

  金相测厚使用制备金相试样的方法得到镀层的横断面，在金相显微镜下，
直接测量金属镀层或化学保护层的局部厚度和平均厚度。

  金相法测量精度高，重现性好。但此法操作复杂，要求有一定的技术和
设备。故一般不作为车间生产检验之用。

  适用于测量2 μm 以上的各种金属镀层和化学保护层厚度。厚度大于8
μm 时，可作仲裁检验。测量误差一般为±10% ，当厚度大于25μm 时，使
误差降到5%内。也可测量薄镀层，精确到±0.8 μm ，

  （一）仪器使用经过校准的、带有螺丝游动测微计或目镜测微计的各种
类型金相显微镜。
  （二）试样的准备一般可从零件主耍表面之一处或几处切取试样。镶嵌
后，对横断面进行适当的研磨、抛光和浸蚀。
  浸蚀完毕后，试样先用清水冲洗，后用酒精洗净，以热风快速吹干。化
学保护层的试样（如侣氧化膜）不必浸蚀。
  （三）测定采用螺丝游动测微计或目镜测微计的金相显微镜，按仪器操
作规程进行测量。

  测量仪器在测量前和测量后至少要标定一次。标定和镀层测量都应由同
一操作者完成。载物台测微计和镀层应放在视场中央。在同一位置上，每次
测量值至少是三次读数的平均值。如需要测量平均厚度，则应在镶嵌试样的
全部长度内测量5 个点，然后取平均值。

  使用这一方法时，镀层厚度的测量误差一般是随放大倍数的减小而增大
的。所以选取放大倍数通常应使视场直径为铰层厚度为1.5-3 倍。

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