镀层微观结构测定用光学显微镜

镀层微观结构测定用光学显微镜-放大倍率为1500倍

  观察微观组织形貌的目的是了解薄膜内部结构所决定的外部几何特征，
包括表面形貌、断口形貌和金相组织特征。

  镀层的微观形貌是分析其生长机理、力学性能和物理性能的重要依据。

  光学显微镜是最普通的形貌观察手段。其最高放大倍数为1500倍。现代
光学显微镜发展了大量的附加装置，因而使其功能大为扩展。例如偏振光、
高温载物台、加载装置等。

  还可以和图象分析仪联用。

  光学显微镜实验研究的重要问题是试样制备，其关键在于防止镀层在研
磨过程中破损。为了显示镀层组织，除化学刻蚀外，还可采用离子束刻蚀和
相衬干涉层等办法。

  光学显微镜的局限性首先在其较低的分辨率。一般而言，显微镜的分辨
率约等于其所用光线的波长。因此，可见光波长的下限（约2500埃）决定了
光学显微镜分辨率的极限。这对于了解微观形貌的细节显然是不够的，光学
显微镜的另一局限性是景深较小，

  因而不适用于断口观察，对于抛光磨片也只能用到500 倍，更高的放大
倍数则要求采取特殊措施。

  尽管如此，由于光学显微镜设备价廉，操作简便，能够迅速给出镀层厚
度及其内部组织的概貌，它至今仍不失为观察镀层微观形貌的一种基本实验
方法

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