偏光显微镜可用于测定矿物和陶瓷样品颗粒光学特征

偏光显微镜可用于测定矿物和陶瓷样品颗粒光学特征

  可将偏振光用于矿物和陶瓷透明样品的测定。先把样品粘到玻
璃载片上，然后再研磨至50微米左右的厚度。由于样品很薄，样品中
有个别颗粒可能会占据这些样品的整个厚度。

  如果材料是各向异性的话，那么当光通过这些颗粒时就会改变偏
振光的方向。

  因为从起偏器出来的入射光具有已知的偏振方向，因此就能用检
偏器测定由于颗粒所引起的方向改变。

  这样，偏光显微镜既能测定颗粒的方位又能测定颗粒的光学性质。

  相衬显微镜所利用的本来不是反射光强度差，而是位相差。这是
由样品表面的不均匀性所产生的。但是用特殊的环形光栏可以把光学
系统上的恤相差转化成强度差。

  通常，反射光的相衬显微镜仅适用于研究不太平滑的表面

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