不同岩石粒度测定用光学显微镜带自动图象分析

不同岩石粒度测定用光学显微镜带自动图象分析

细、中、粗粒晶质岩石的岩性模式分析

  在研究不同粒度的变质岩和火成岩的时候，通常都需要有标准矿物
成分的资料。因为在32X的放大倍数下，研究型光学显微镜的分辨率为
5-10μm ，标准矿物成分的数据可通过点计数法或罗西瓦分析法来获得。
在作点计数时，要使用带网格测微尺的目镜。为了提高分析的速度，我
们使用自动图象分析系统来完成这项工作。用点计数法和使用自动图象
分析系统测量的精度大体相同，但后者的分析速度要快得多，且数据的
吻合性好。

  为便于目测或作自动图象分析，有时需要考虑对某些矿物相，如长
石等，进行染色。不过对大多数晶质岩石来说，供宏观研究用样品的制
备都较简单，只需切出一个平面，再用800 目砂纸磨抛就可以了。

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