表征孔结构特性分析金相显微镜

表征孔结构特性分析金相显微镜-定量图像分析仪器

  典型的金相技术可用于表征孔结构特性。一般的技术如光学显微镜和定量图
像分析仪可给出孔的尺寸、孔壁的厚度、方位和相邻孔之问的关系等相关信息

  结构表征的另一个(可能是更重要的)任务是检测多孔构件的质量.但对多
孔构件的质量标准还没有明确的定义。表观密度是所有概念的基础。

密度的粗略估计可通过称量已知体积试样的重量而获得，较准确的结果可通过阿
基米德定律获得。不幸的是，并非所有的构件都有密闭的表面，因此实验中要防
止液体的渗透，否则获得的实验结果是没有价值的。

  多孔构件的局部密度分布可通过X射线照相术或者计算机X射线层析照相
术(XCT)确定

  通过局部密度的分析可确定金属的分布是否均匀。如果不均匀，构件上就
会有硬或者软的.区域存在.采用分辨率为l0μm XCT扫描技术使我们能够对
孔结构和缺陷进行研究。对于密度分布和缺陷检测，除了XCT扫描技术、其他
无损测试技术如超声波测试、涡流电场测试法或同步温度记录法都在考虑范
困之中。

  由以上介绍可以得出结论，结构分析是多孔金属和泡沫研究的M础。研究
的目标是找出结构、工艺技术、性能之间的关系，并通过模拟加以描述和理
解。

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