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读数显微镜,取两个读数平均

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放大字体  缩小字体    发布日期:2019-03-12  来源:仪器信息网  作者:Mr liao  浏览次数:832

读数显微镜,取两个读数平均-工具型光学仪器

  (1)半周期法:对于周期误差,如取相隔180°方向的两
次读数的算术平均值,便可消除。例如测度盘可在相距半周
期上置两个读数显微镜,取两个读数平均,就可消除此误差。

  (2)对称法:对具有线性的系统误差,也可以取对称于
中间数的两边测量值的平均数消除此误差。例如测量仪器均
匀地受温度影响而使测量值均匀地增大或减小

即可消除系统误差的影响。
  以上所讨论的消除系统误差的方法并不可能将全部误差
都消除掉,而只能说是绝大部分的误差被消除,因此只是近似
于实际值。

  从偶然误差的特性中知道,测量误差愈大,它出现的概率
愈小,也就是说大误差出现的机会是很小的。但是,由于测量
者不小心在测量过程中偶然读错、写错、算错等等因素还是可
能存在的,这是明显歪曲测量结果,应设法发现和剔除它。

  要发现单次测量有无过失误差,一般是重新测量一次看
它是否相差太多。

(本文由上海光学仪器厂编辑整理提供, 未经允许禁止复制,转载须注明网址http://www.sgaaa.com)

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