金相截面测量厚度常用方法

金相截面测量厚度的常用方法-多功能一体金相显微镜

镀层厚度
  虽然化学镀镍层的镀层厚度，很大程度上可以决定它的质盘
和用途，但厚度本身并不是性质。

  当测试的样品具有简单的形状(例如板、管等)，只要简单的测
量就够了。但是，当形状复杂时，需要一个定位夹来保证千分表或
数字千分表总是测在同一位置上.良好的干分表有±2μm以下的
精度。

  金相截面法测量厚度的通用方法

这种简单的方法特别适合于厚度55m以上的镀层.由于金相显微镜
分辨率的限制，较薄的镀层能够#471量到±0.5μm。金相截面法
不适合测量厚度2μm以下的镀层。

  磁性法规定(DIN50981)测量铁磁性基底上的非铁磁性镀层.
有两种不同的测量原理。

  吸力法中，测量镀层厚度是利用永久磁铁和基底之间的吸力
大小与两者之间的距离的关系。这一距离就是镀层厚度。
  在基底本身抛得非常光的情况下，使用适当的设备和正确的
工艺条件，可以沉积出很厚的，反射率很高的镍磷镀层。

有200μm一P(12%)化学镀层的光学反射镜，很高的反射率，加
上经久的光亮度解决了空间应用有关的特殊问题。

(本文由上海光学仪器厂编辑整理提供, 未经允许禁止复制http://www.sgaaa.com)