双折射矿物折射率测量用光学图像显微镜

双折射矿物折射率测量用光学图像显微镜

  在寻找好包裹体时，光源是一个重要因素，如果切
片非常清楚透明，并含有很少小包裹体时，那么最好
是通过缩小显微镜台下的光圈至一个非常小的直径以
寻找好包裹体，这将在比较深的焦点上显示小包裹体
。在一些充满了包裹体、破裂或固态碎屑的样品中寻
找好包裹体和仔细检查任何一个定包裹体时，光圈一
般应该大开着，这可消除许多图像叠加的麻烦。

  双折射矿物往往应该要样品的某一偏振方向平行于
偏光镜的位置进行观察，这样就消除了在向一个双折
射率低的矿物的深处观察时所见到的（在方解石的几
乎任何深度都可见到）干扰的双重图像。除非是包裹
体很接近表面，否则，偏光镜都应该与双折射率高的
一轴晶负矿物（例如蓌面体的碳酸盐类）的常光平行
，这是因为非常光的图像严重地被歪曲而模糊不清。

（因为这些矿物中常光具有高得多有折射率，所以这
种情况也允许我们聚焦在切面较深处，因而在油浸物
镜范围内能看到更多的样品部分）。如果必须用玻璃
盖片的话，那么最好是用最薄的“00”级盖玻片以得
到聚焦样品的最大深度。

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