鉴别矿物植物包裹体形状与大小计量图像显微镜

鉴别矿物植物包裹体形状与大小计量图像显微镜

切面和抛光

  适合作显微镜研究的两面抛光薄片的切制和抛光比制做
一般的切片和光片更要细心。要从抛光不好的样品（抛光差
的样品造成严重的图像衰退），去对包裹体作光学研究（特
别是在不利于光性研究的热台和冷台的情况下），如不遇到
额外的麻烦那是很困难的。如果是用普通的显微镜进行研究
（而不是有热台和冷台的），则用盖片加上极相近的浸油即
可以代替一片良好的抛光片。

  抛光片通常是在专门样品的最佳方向切一薄片制备的，
这应该用一个很薄的边缘上连续镶嵌金刚石的切轮和水冷却
剂来完成，这些切轮用不同粗细的砂做成，用来切割各种物
质，这种类型的切轮在邻接踞盘的样品锯切面上所造成的破
裂比用标准凹边金刚石刀盘切割薄片时所产生的破裂要少得
多。刀盘越薄，在切割中所需要压力越小，损失的样品也越
少，但刀盘断坏的机会也越大。作者用厚0.015 英寸的刀盘
来切割小晶体，并且切割制备用的玻璃载玻片上许多形体。
  抛光的质量（尤其是顶面）要求特别严格。

  晶族的薄壳和易碎或疏松多孔样品的薄片最好用环氧树
脂作包壳或注入（必要时要在真空条件下进行操作）、并固
结、研磨至横切面上所需的晶体达到最大数量为止，然后进
行抛光。用一种可溶胶合剂把这种抛光面粘地一块载玻片上，
并锯出第二个平行面。研磨和抛光后，溶掉胶合剂，就制成
了适合热台和冷台的两面磨光片，用研磨的方法以减小任何
薄片厚度之前，最好用一盖片及合适的浸油的方式非进行
“临时抛光”法检查。采用此法，我们就常可以认出一个接
近表面的大包裹体，这种包裹体只有从其反面研磨和抛光才
能保存下来。

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