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电粒度分析与显微镜分析磨粉的粒度的特点
光在各种微粒上的漫散射，是产生测量误差的原因之一
(特别是检验轻度色散性磨粉时)。要消除这一缺陷，可在上
述仪器中与光通道平行的平面上加装一个辅助光电元件，这
个无电元件和仪器的主要光电元件面对面地安装。因为悬浮
掖中光的漫射是扩散型的，也就是光的漫射强度在任何方向
都是相等的，故接入辅助光电元件就可校准仪器的示值。主
要光电元件和辅助光电元件必须要选择其特性相一致的。
上述光电粒度分析法具有一系列优点，比较显微镜分析法，包
括分析时间大大缩短，能足够客观地评定待分析磨粉的粒度
组成，以及令人满意的测量结果的重合性。但是，这种方法
也有一些缺点，因而目前还在研制新的粒度组成分析法。尽
管这些方法暂时还未在磨料磨异工业中得到广泛的应用
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