光切显微镜可以用来测量非常精细表面粗糙度

光切显微镜可以用来测量非常精细表面粗糙度


  许多不同的技术是可用来测量表面粗糙度的，能检查表面横
截面轮廓的手段有锥形横截法或光切显微镜，锥形横截法是用很
小的角度来截取试样；光切显微镜是将狭缝的图象以45度入射角
投射到表面上，用处于45度反射角位置上的显微镜的物镜来观测
：如果表面是光滑的，则狭缝的图象是直的，若表面是粗糙的，
则图象是起伏的。

 光学 数字技术克服了许多与测量非常精细表面（用传
统和非传统的方法）粗糙度有关的困难问题，所得到的结果不仅
精确，便于比较，而且预示出最好的表面功能特性。因此，该粗
糙度的评定与由工厂的仪器可能得到的局限的结果相对比是可用
的、实际的、详尽的和全面的，而且还是一个非接触方法，不存
在划伤表面的危险。

  零件的表面粗糙度影响诸如摩擦、磨损和润滑等方面的功能
特性，因此为了得到最佳的性能，必须控制由不同加工方法获得
的表面粗糙度。要求有一种快速和有效的测量表面粗糙度的方法。

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