光学显微镜在测量中的应用

光学显微镜在测量中的应用-多功能光学元件厂商

研究显微变形的光干涉测量法 
光干涉测量法通常分为点的和立体的(全息照相)两种。
用第一种方法可以进行一个点上的探测；而用第二种方法，

则无论被研究物体有多么复杂，都可以同时观察物体整个被研究
的表面或整个物体。

 在点干涉测量法中，利用两来精确叠加的光路，
因为这里的
干涉图象出现，只是在对同时存在的两条光程图象进行比较而来
的。各种点干涉测量法实际上都是利用迈克尔逊干涉仪或其变形
产品的原理力基础，其结果是两束相干的平面光波的叠加而产生
干涉，所以各种光学元件都应当是高质量的。

被研究的物体表面的本身在某种程度上也是干涉仪系统中的光学
元件，所以这个表面应当是光学平面，而且要抛光成镜面。

这里，探讨一下全息照像的物理顷理和它与普通照像的区别。普
通照像一般在白色光(非单色光和非相干光)下，光学(透镜)系统
将三维物体拍摄在照像底版平面上。这样，物体的像就失去了立
体性质，不能从像片各个方向观察物体，所以在像片上没有位移
视差效应。

只能拍摄物体一定部位的像。所以，在一张底片上无法拍摄几个
物体的像，因为一个像要干扰另一个像。像的照度决定于在单位
时间内照射在底版每个部位单位面积上光的能量。此时不考虑物
体反射的光波相位，因为它们是分布在像的平面上的。

  近来，
所谓全息照像的方法得到了成功地发展。这种方法所
得到的光学图象与普通照像有原则亡的区别。全息照像法是一种
原理上全新的方法，可获得物体的立体成像。这种方法的基础是
：空间相干的单色光波，  当相交时，在相互平行的方向上偏振
而产生干涉。

全息照像的过程，总的说来，就是把照射在物体所有点上的散射
出来的光波和参考(直射)光波叠加在一起。

  由于相干光波叠
加的结果形成了干涉图象，这种图象一般记
录在照像底版或感光软片上，假如照射在底板上只有三维物体所
散射的光，那么，这种光对底板的照射是均匀的。

我们得不到由物体各点散射的光程差所决定的对照度的信息。如
果带给物体的另一种信息模拟为参考光波，它起着直射频率的作
用，则这种模拟所反映的不仅是振幅的变化，而且还反映相位的
移动

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