当前位置: 首页 » 新闻资讯 » 厂商 » 正文

金相表面特征检测光学显微镜和电镜两种技术互补

分享到:
放大字体  缩小字体    发布日期:2019-03-12  来源:仪器信息网  作者:Mr liao  浏览次数:746


表面检查

  因为电子被致密材料吸收,对金属的早期研究就限于复
型技术研究金属表面,这些工作涉及用适当的代密度材料
制作一个表面的复型,因此这种复型方法的使用受到限制
,不过复型技术仍广泛地用于定性和定量地评估许多表面
特征。

 在实际场合下,选用电子显微镜并不总比选用光学显微镜
有益,所以,重要的是要选择适于一种具体目的的最好技
术,两种技术互为补充,每种方法都能获得有用的数据。

  结构的检查

  用透射电子显微镜检查金属结构,重要的是要制备能透
过电子事泊金属薄片,对于镍来说,就必须要制备1000-
2000A厚的薄片。

  已进行的实验工作表明,假定在制备薄片时,镀层的开
始层溶解掉,那么一个特定的镀层的结构与基底的性质无
关,这就消除了检查一种结构可能受基底影响的非代表试
样的可能性,因为高倍放大是可能的。

  但是即使在最高放大倍数下,光亮镍的结构也不能分辨
,但在显微镜内也能进行电子衍射,以致在亮镍的情况下
,也能获得某些数据。

(本文由上海光学仪器厂编辑整理提供, 未经允许禁止复制http://www.sgaaa.com)

合作站点:http://www.xianweijing.org/
 
 
打赏
[ 新闻资讯搜索 ]  [ 加入收藏 ]  [ 告诉好友 ]  [ 打印本文 ]  [ 违规举报 ]  [ 关闭窗口 ]
免责声明:
本网站部分内容来源于合作媒体、企业机构、网友提供和互联网的公开资料等,仅供参考。本网站对站内所有资讯的内容、观点保持中立,不对内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。如果有侵权等问题,请及时联系我们,我们将在收到通知后第一时间妥善处理该部分内容。
 

金相表面特征检测光学显微镜和电镜两种技术互补二维码

扫扫二维码用手机关注本条新闻报道也可关注本站官方微信账号:"xxxxx",每日获得互联网最前沿资讯,热点产品深度分析!
 

 
0相关评论