在10-25μm范围内的孔隙度测量多功能显微镜
在10-25μm范围内的孔隙,应通过放大100倍观察试块的表面来
确定,要检验能充分代表试块的部位,并与显微照片进行对比。
试块
应地粗糙度Ra 0.2μm的表面进行测试。
由试块表面去除层的厚度应不小于0.2mm。
表面有备制应这样进行,使因冷热加工面引起表面的任何变化减
到最少。
当测定带弯曲表面试块的硬度时,弯曲表面的曲率半径不就好小
于15mm。
为了测定曲率半径小于15mm试块的硬度,在进行测试处应制备至
少1mm,但最好是3mm宽的平坦表面。
制备的试块应至少1.6mm厚。
压头作用的试块表面应平行于支撑面,其平行度为每10mm
长不大于0.1mm.
操作程序
处置的顺序应按ISO/R80,并作如下修改。
新压头装上后,前两次的读数不取。
在指针动作已停止后,加主载荷的时间应不超过2秒,在2秒内逐
渐地卸下主载荷,但保持预载。
(本文由上海光学仪器厂编辑整理提供, 未经允许禁止复制http://www.sgaaa.com)
合作站点:http://www.xianweijing.org/