颗粒状粒度范围

颗粒状物质的粒度范围-筛分析和颗粒分级图像显微镜

粒度分布的图示方法是比较麻烦的。同时，颗粒度数据处理
也要求找到表示粒度分布的函数式。因此，研究分布函数是十分
必要的。

  对分布函数曾引入过许多经验式，但研究较多的是对
数正态分布。对数正态分布应用较广，也有一定的理论根据。一
般认为，它对于用结晶或粉碎方法得到的颗粒系统是适用的，并且
经过适当的变换，也可以解释一些偏离对数正态分布的粒度分布。
颗粒度数据的重要性

颗粒状物质的粒度范围
  这些颗粒度数据的获得是前人大量工作的结果。粒度测量工
作，追究其历史是一件很有意义的工作，因为它与人类对大自然
的认识、生产活动息息相关。但可惜，对这个问题没有人进行过
系统研究。如果大概的说一下，那么最早使用的方法应是筛分析
和某些颗粒分级方法，像米和面的筛分、食物加工中风选、选矿
中的水力分级等在古代就有了，一直延用到现在。显微镜是18世
纪出现的，它的出现扩大了人们的视野，一些本来肉眼看不见的
颗粒状物质，这时被发现了，像细胞、细菌的发现都是有划时代
的意义的。

应用某些沉降分析技术，
这是和工业的发展分不开的，像地质上泥沙、陶瓷和化工原料、
金属粉末和废气中尘埃等的粒度测量，基本上是这个时候开始
的。至于电子显微镜和一些颗粒自动计数方法的出现则是近期的
事，它是近代大工业生产和科学研究所需要的。

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