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辽西恰全新Litesizer FF 500石墨烯激光器量值星象新产品宣讲会

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放大字体  缩小字体    发布日期:2021-07-29  来源:仪器网  作者:Mr liao  浏览次数:59
核心提示:第十六届世界制药原料中国展(简称“CPHI China 2016”)将于2016年6月21至23日 在上海新国际博览中心(浦东新区龙阳路2345号)拉开帷幕。展会同期在新国际展览中心N1馆将有一个名为Innolab的主题活动,安东帕将举办2


第十六届世界制药原料中国展(简称“CPHI China 2016”)将于2016年6月21至23日 在上海新国际博览中心(浦东新区龙阳路2345号)拉开帷幕。

展会同期在新国际展览中心N1馆将有一个名为Innolab的主题活动,安东帕将举办2016年全新上市的LitesizerTM 500纳米激光粒度仪的产品宣讲会。届时,安东帕将为大家呈现激光粒度仪的用途,竞争优势,参数以及应用,欢迎大家莅临现场。


宣讲会时间:6月23日(周四)上午 10:00-10:20
宣讲会地点:Innolab会议活动区 N1A96


凡是6月23日上午10点参加LitesizerTM500新品宣讲会(N1馆A96)的客户,在宣讲会结束后可以领取精美礼品一份。



创新是安东帕公司最核心的价值所在,聚焦于专业市场,继材料表征、表面力学测试之后,安东帕又研发出了一款精确而巧妙的测量仪器。2016年4月,安东帕纳米粒度及Zeta电位分析仪,LitesizerTM500全新上市——只需按下按钮即可进行颗粒分析。


LitesizerTM500是用于表征溶液中分散的纳米颗粒以及亚微米颗粒的仪器。它可通过测量动态光散射 (DLS)、电泳光散射 (ELS) 和静态光散射 (SLS) 来测定颗粒尺寸、zeta 电位和分子量。


LitesizerTM500采用先进算法及尖端zeta电位测量专利技术

连续测量透光率以选择最佳样品测试参数

静态光散射(SLS)测量分子量,快速无损

DLS颗粒分析法–在单一悬浮液中不同颗粒尺寸的测量问题可轻松解决

 ELS专利技术:cmPALS,采用新型专利(欧洲专利 2 735 870)cmPALS技术,zeta电位测量的准确性达到最高,所需时间降到最少



一页式的工作流程,为您减轻实验室负担:

LitesizerTM500的一大亮点是其简单而巧妙的软件。我们已创建了可将输入参数、结果和分析集中到单个页面上的一页式工作流程:您可以在数秒内完成试验设置,只需简单按键即可得出所需的分析结果和报告。不断的创新为使用者提供最佳的分析解决方案,可广泛应用于实验室质量控制、质量控制部门以及其他粒度分析领域。


 

 
 
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