测量粗糙度的仪器的设计原理

测量粗糙度的仪器的设计原理-机械轮廓仪常识

  粗糙度的测量
  目前的表面测量技术水平还可能将一个物体的实际表面准确地
表征出来，并确定它的真正质量。

  测量粗糙度的仪器分为按接触原理工作的和按光学干涉原理工
作的两类，接触仪仪器所提供的是一种一维的表面图形，而光学
干涉显微镜所显示的则是一种二维的表面图形，采用机电接触式
轮廓仪，则不但可提供表面的轮廓图，而且还可以直接示出各种
粗糙度尺寸。

  当用一种粗糙度尺寸，表明一个要件的粗糙度时，需要在工件
的不同位置上进行一系列测量，以便从这些值中求出一个平均值
来，测点的数目取决于这些分别测量数据的离散程度。
  由于至今不没有一种测量粗糙度的仪器能准确地按标准，所以
在比较由各种机电式轮廓仪测出的粗糙度时，必须注意下列两点
：
  1、 这些仪器必须有相同的基准制，或者同样的探测器结构；
  2、测量必须在轮廓的同一段长度上进行，而且都不用或者都
用相同的波纹滤除器。

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