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镀覆层形态、结构、位置的不同应力测量显微镜

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放大字体  缩小字体    发布日期:2019-03-12  来源:仪器信息网  作者:Mr liao  浏览次数:200

镀覆层形态、结构、位置的不同应力测量显微镜


镀覆层中残余应力的形成,与镀覆时的工艺方法、工艺参数、
镀液组成、镀覆层金属熔点、镀覆层厚度等因素有关。

  通常根据镀覆层的性质、形态、结构、位置的不同.残余应力也
具有不同的性质。例如镀覆层金属为低熔点金属(如锡、铅、锌、镉
等)时易形成压应力;而镀覆层金属为高熔点金属(如铜、铁、钻、镍
等)时易形成拉应力。由镀覆工艺、镀液等因素引起镀层材料趋向
膨胀时,镀层内应力表现为压应力;反之使镀层材料产生收缩时。
表现为拉应力。这些情况在测试时都应予以注意。


  有时发现个别熟料矿物颗粒的边缘,在正交偏光镜间也有较高
的干涉色,为了避免将其误认为酚钙矿巢,可以拉出具偏光镜进
行观察,如为熟料矿物,则颗粒外形此时不发生变化。
  矿渣活性度的测定
  粒状矿渣活性度的测定,是基于矿渣结合石膏的化学能力,以
硫酸钙与矿渣反应之速度来表示它的活性度,实际上,我们是以
每20克矿渣,在一定条件下吸收的石膏量来表示其活性度的。
  矿渣的活性度决定于它的成分,成粒时的温度以及熔融矿渣的
冷却速度。
  氧化铝在矿渣中以两种状态存在;一种是活性状态,迷幻存在
于矿渣的玻璃质中,能与石膏起作用;另一种是非活性状态,它
存在于矿渣的结晶体中,以硅铝酸二登上出现,不能与石膏起作
用。
  测定矿渣活性度的方法,可用盐酸联苯按容量法;也可用硫酸
重量法。

(本文由上海光学仪器厂编辑整理提供, 未经允许禁止复制http://www.sgaaa.com)

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