用光学工具显微镜或者涡流直接测量包铝层的厚度

用光学工具显微镜或者涡流直接测量包铝层的厚度

  运用光学工具进行操作时，要用到许多光学仪器和附件。对
于这些仪器，我们不仅要懂得操作，还要懂得它们的光学原理，
以便充分发挥仪器的性能。

  在生产过程中直接进行表而质量的检验，以符合技术条件所
要求的几何参数。此外，还检验化学成分、机械性能、组织、是
否存在内部缺陷和不密实性(用金相、超声波和其他方法)。在
某些个别情况下，用显微镜或者涡流法直接测量包铝层的厚度，
测量阳极氧化膜的厚度等等。用于电工技术方面用的制品(母
线、导线等)需要补充检验导电率。自然时效型铝合金半成品要
检验晶间腐蚀倾向，其方法是在1N的NaCl+l%HCI溶液中浸蚀
试样，然后在显微镜下观查磨片。取样制度、尺寸和试验方法依
相应的技术条件而定。

化学成分检验
不论快速分析结果如何，每熔次都要检验化学成分。
允许重复分析，当重复分析结果仍不合格时，则该熔次报
废。

  分析的重现性，按以不少于50次测定结果计算的均方误差来
表示，应该与下列值大致相符:元素浓度从0.001%到0.1%时为
士10%;从0.1%到0.5%时为士5%;从0.5%到3.0%时为±3-
4 %;从3.0%到10.0%时为±4%

  当元素浓度不大于5%进行大呈分析时，两个乎行测定的试
样结果之间的允许偏差不应超过试样中元素含且的 ± 8%。如果
偏差超过士8%时，该试样要进行重复分析。当分析较高浓度的
元素时，允许偏差范围为士5%

  铜含量5-8%和锌含量6-9%时，用光电光谱仪分析是有某
些困难的，其主要原因是难以制造出均匀的标样。如硼、铬等微
量杂质可用示波照相极谱分析和矢量极谱分析方法测定。

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