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TSI的公司出席第九届全国性电离层细及极限细粒子关键技术学术会议 及第十四届台海两岸辐射关键技术学术会议

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放大字体  缩小字体    发布日期:2021-07-26  来源:仪器网  作者:Mr liao  浏览次数:45
核心提示:美国TSI公司参加了于2016年7月25–29日在江苏省盐城市举办的“第九届全国大气细及超细粒子技术研讨会及第十四届海峡两岸气溶胶技术研讨会”, 大气细及超细粒子研究是当前国内外大气气溶胶、大气环境和气候变化研究的前沿发展方向,同时由大气细

美国TSI公司参加了于2016年7月25–29日在江苏省盐城市举办的“第九届全国大气细及超细粒子技术研讨会及第十四届海峡两岸气溶胶技术研讨会”, 大气细及超细粒子研究是当前国内外大气气溶胶、大气环境和气候变化研究的前沿发展方向,同时由大气细及超细粒子带来的环境污染问题及其污染控制是国家和全国人民都关注的焦点。为进一步交流大气细及超细粒子领域的最新研究成果,会议主题为“大气细粒子污染控制新技术”,分享了国际上最前沿的细粒子污染研究和控制技术。


美国TSI公司针对大气超细粒子领域的测试需要,于会上展示了多种检测技术和设备,可适用于大气气溶胶、大气环境研究的不同应用和监测需求。



美国TSI公司于展会上展示了新推出的3938E77 型1nm 扫描电迁移粒径谱仪(SMPS)被广泛用于测量1 微米以下的气溶胶粒径分布。选配3777 型纳米增强仪以及3086 型差分电迁移分析仪(1nm-DMA)组件后,SMPS 粒径谱仪能够测量的粒径范围扩展至1nm。


3321 空气动力学粒径谱仪(APS™) 提供 0.5 至 20 微米粒径范围粒子的高分辨率、实时空气动力学检测。这些独特的粒径分析仪还检测 0.37 至 20 微米粒径范围粒子的光散射强度。APS 粒径谱仪通过向同一粒子提供成对数据向有兴趣研究气溶胶组成的人士开辟了令人振奋的新途径。

TSI 3330型光学颗粒物粒径谱仪简单轻便,能够对颗粒物浓度和粒径谱分布进行快速和准确的测量。基于TSI公司40年气溶胶仪器设计的经验,本款产品使用120度光散射角收集散射光强度和精密的电子处理系统,从而得到高质量和高精度的数据。同时,TSI工厂严格的标定标准也确保仪器的精确性。该产品是广大环境研究机构和环境监测部门进行颗粒物监测分析和源解析的最佳仪器。



更多信息,请关注美国TSI公司官方网站: www.tsi.com/cn

 

关于TSI公司


TSI公司研究、确定和解决各种测量问题,为全球市场服务。作为精密仪器设计和生产的行业领导者,TSI与世界各地的科研机构和客户合作,确立与气溶胶科学、气流、健康和安全、室内空气质量、流体力学及生物危害检测有关的测量标准。TSI总部位于美国,在欧洲和亚洲设有代表处,在其服务的全球各个市场建立了机构。每天,我们专业的员工都在把科研成果转化成现实。



 
关键词: TSI 粒径 大气 粒子 研究
 
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