偏光显微镜树胶与矿物折光率差值大则解理纹越清晰

偏光显微镜树胶与矿物折光率差值大则解理纹越清晰

  单偏光下观察只用一个下偏光镜而不用上偏光镜的观
察，称单偏光下的观察，矿物晶体的许多重要光学性质，
只需要一个下偏光镜就可以观察，如颜色、多色性等，某
些外表特征，则不需要下偏光，只要放大就能观察，如形
状、解理等，不过对这些特征的观察，有下偏光镜也没有
影响，所以通常都是在单偏光下观察。

  许多矿物都具有解理，但是解理的方向，组数及完善
程度各不相同，所以解理也是鉴定矿物的一个重要依据，
解理即有一定方向性，因而它与某个晶轴常有一定关系，
所以在薄片鉴定中，解理还可以作为测定其他光学常数的
辅助条件。

  根据解理的完善程度，一般可分为三级：1 、极完善
解理，解理纹细密而直长，如云母

  2 、完善解理，解理纹虽清楚，但末完全联贯

  3 、不完善解理，解理纹继续，有量只见痕迹矿物解
理的清楚程度，除与解理完善程度有关外，还受矿物与加
拿大树胶折光率差值的影响，树胶与矿物折光率差值愈大，
则解理纹愈清楚，解理纹的宽度，除与解理性质有关外，
还与解理性质有关外，还与切面方向有密切关系，当切片
平面与解理面垂直时，解理纹最窄，代表实际宽度，解理
面与切面是否垂直，可借升降显微镜筒时解理纹是否向两
边移动来鉴别。

(本文由上海光学仪器厂编辑整理提供, 未经允许禁止复制http://www.sgaaa.com)