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性能卓越、操作简便的桌上型三维光学显微镜
ContourGT-K三维光学显微镜完善了表面测量和分析的新标准，这套测量系统拥有工业领先的测量性能和灵活性，采用专利白光干涉技术，超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围，具有业界最高的垂直分辨率和测量重复性。
凭借其独特的直观用户界面和功能最全的自动化检测、分析功能，方便用户快速高效的获得材料粗糙度、二维/三维表面分析以及高分辨成像，广泛应用于LED、太阳能电池、薄膜材料、MEMS、精密机械零部件、摩擦磨损等各个领域，满足各种表面测量的实际需求。
ContourGT-K三维光学显微镜集三十年表面测量技术之大成，将创新技术与业界测量经验完美融合到一套非接触式表面测量系统上，凭借低噪音、高速度、高分辨精确测量，满足各类测试需求。任意选择不同的放大倍率，在极宽的测量范围内，对样品表面形状和纹理进行表征，在任何倍率下，从亚纳米级到超过10毫米级垂直测量量程提供了无与伦比的测量灵活性，是当今生产研究和质量控制检测的最佳选择。
提高表面测量和分析速度
ContourGT-K测试系统上，用户可自定义分析选项，多核处理器和Vision64®软件将数据处理、分析速度提高十倍，大大提高测试效率。同时完善了软件和硬件功能，人性化的工作流程、顶尖的光学测试系统、高性价比的检测平台，使其成为桌上型三维光学显微镜的最佳选择。除了标准配置的各种检测功能，客户还可以自定义测试方案，选择各类各级配件或特殊测试模块：
全自动X、Y、Z样品台
NanolensTM AFM模块
特殊应用测试软件
