不同的电子显微镜在金属断口表面定量分析中的应用

不同的电子显微镜在金属断口表面定量分析中的应用

  制备透射电镜用断口表面复型常常会遇到一些操作上的困
难．如断口表面的某些局部很难制备出可用的复型，或者在复型
制备过程中引入假象。使用扫描电镜则一般不存在这些问题，而
且还具备一些独特的优点，如可以获得断口表面的X一射线图象
以帮助断口分析。

  实用价值较大的断口表面定量分析基本方法有以下三种，即
立体观测法、正投影法和剖面迹线法。

在断口表面的定量分析中，观察方向的选择至关重要。最
合适的观测方向一般是垂直于断口表面平均平面的方向；也就是
说，我们在实际工作中分析的常常是相当干断口表面正投影图象
的扫描电镜照片或透射电镜复型照片。

  在使用透射电镜时，被观察的复型总是置于支持网上，从而
断日表面总是投影在支持网所在的平面内。换言之，用透射电镜
进行断口复型观察时，我们总是以支持网所在平面近似断口表面
的平均平面；观察方向总是由设备条件确定的，即垂直于复型支
持网平面。 
 
  扫描电镜对试样的观察方向是可变的。为获得正投影图象，
建议采甩下述方法选择观察方向：首先采用最小的放大倍数观察
整个断口表面，然后调整试样的角度，使断口表面图象呈现尽可
能少的“浮雕”。这时的观察方向即所要求的方向，所拍摄的显
微照片即可视为断口表面的正投影图象。为了使所获得的图
象可以较好地近似为平行束投影图象，还应要求所使用的放大倍
数大干或等于500倍

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