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仪器信息网、中国电子显微镜学会、中国电镜网联合报导：2016年全国电子显微学学术年会于10月13-15日在天津东丽湖恒大酒店隆重召开。本次会议共设有八个分会场，分别是：显微学理论、技术与仪器发展分会场；能源、环境、信息等功能材料的微结构表征分会场；机构材料及缺陷、界面、表面，相变与扩散分会场；扫描谱学分会场（STM/AFM）；扫描电子显微学（EBSD）分会场；原位电子显微学表征分会场；生命科学研究分会场；生物电镜技术分会场等。本网编辑将有选择性地对部分分会场的部分报告进行报道。
在10月13日下午的显微学理论、技术与仪器发展分会场，共安排有8个报告，报告者及报告内容分别是：
北京工业大学隋曼龄教授利用电子辐照技术激发VO2纳米线中的金属相和绝缘相之间的转变，研究中发现，通过电子辐照过程，绝缘相转变为金属相的转变温度可以低至室温，而这一现象与在辐照过程中氧空位的形成（通过EELS技术观察获得）有关。
北京工业大学 隋曼龄教授
中科院物理所葛炳辉研究员对高分辨率透射电子显微镜成像中“图像的信息是如何随着厚度变化而变化”从理论上进行了研究，即通过将赝弱相位物体近似理论和TCC理论相结合，研究高分辨像像衬随样品厚度的变化规律。在考虑低阶像差的条件下推导出高分辨像线性部分和非线性部分的解析表达式，从而定量给出两个部分随样品厚度变化的规律。发现当样品比较薄时，非线性部分可忽略，但当样品变厚时，非线性部分对成像的贡献变得越来越明显。
中科院物理所 葛炳辉研究员
FEI公司的Erwan Sourty博士用流利的中文进行了报告。他向与会者着重介绍了两项FEI公司在STEM方面的新技术进展。单色器技术的出现为相关研究人员带来了极大的好处，譬如可以使得显微图像的对比度得到显著改善。但它的使用对于操作人员来讲则要求较高。FEI开发的OptiMONO——单色器调谐技术使得用户在使用配有单色器的电子显微镜时更加方便。Sourty博士重点介绍的另一项技术称之为iDPC（Integrated Differential Phase Contrast）技术，该技术的具体细节可参考今年发表在“Ultramicroscopy”杂志上的文章“Phasecontrast STEM for thin samples: Integrated differential phase contrast”。据了解，该技术的突出特点之一是能够使轻元素（C,O,N...）和重元素（Sr,Ti,Ga...）同时成像在一张图中，而一张标准的（HA）ADF-STEM图像只能显示较重的元素。
FEI公司 Erwan Sourty博士
中南大学李凯副教授的报告题目是“结合传统电子显微术及先进表征技术对Al-Mg-Si-Cu合金进行微结构定量”。李凯在报告中指出，精准的结构鉴定对合金设计非常重要。HAADF-STEM、3DAP及HR-EDX等先进表征技术日益发挥出它们的优势，在研究纳米析出相单胞中的原子占位、添加元素空间分布、精准成分测定方面提供了巨大帮助。尽管如此，传统电子显微术仍然具有其不可替代的优势，且值得继续开发。通过传统电子显微术及先进表征技术的结合，优势互补，以实现材料微结构的定量表征，可有力地推动材料基因工程的进步。
中南大学 李凯副教授
日本北陆先端科学技术大学的Yoshifumi Oshima教授在其报告中提到了一个称之为“操作透射电镜（operand TEM）”的技术。Oshima教授将这项技术应用于锂离子纳米电池的开发以及研究电池在操作使用过程中其阴电极（LiMn2O4）的结构变化。通过使用operand TEM进行观察，该课题组发现纳米线阴极改善了电池的性能。
日本北陆先端科学技术大学 Yoshifumi Oshima教授
DELMIC B.V.公司（苏州德尔微仪器有限公司为其国内独家代理）的van Oosten Slingeland Daan博士则在报告中介绍了该公司的两个主要技术——集成相关显微镜（SECOM）和高性能阴极荧光检测技术（SPARC）。据了解，SECOM可以集成目前市场上的所有主流品牌的扫描电镜。而SPARC技术具有独特的角分辨能力，其在诸如纳米光子学等领域有着广阔的应用前景。
DELMIC B.V.公司 van Oosten Slingeland Daan博士
浙江大学余倩教授利用原位电镜技术对低温下高熵合金的变形机理进行了研究。高熵合金在低温下，其强度、塑性等物理性质均会得到改善，其原因可能来自于位错运动、孪晶变形以及位错和孪晶之间的相互作用。
浙江大学 余倩教授
北京科技大学易晓鸥讲师利用离子辐照和原位透射电镜技术对钨（基）材料中的离位损伤，包括损伤的起源，损伤组织的演变规律，损伤缺陷、组织的热回复等进行了系统的研究。在研究过程中，研究者发现显微缺陷研究手段与多尺度建模相结合，可对材料性质进行可靠的预测。
北京科技大学 易晓鸥讲师
