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熔化法和烧结法制造的焊接点硬度便携金相显微镜

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放大字体  缩小字体    发布日期:2019-03-12  来源:仪器信息网  作者:Mr liao  浏览次数:1009

晶粒的大小与方向(硬度)


  在开断频率比较高的弱电流使用条件下对银接进行寿
命试验,并对所作的寿命试验结果进行统计处理,则其损
耗量和接触电阻与硬度具有相同的关系。

  由塑性变形产生的内部应变,在晶粒内外非常不均匀,
受腐蚀时,应变大的地方成为阳极,接点的情况也是一样,
应变分布不均匀时,应变大的部分放电容易集中,当粉末
状氧化物进入其微小的损耗部分时接触增大,放电更易集
中到该处,故往往使损耗加大,内部应变分布的不均匀比
内部应变的大小对损耗的速度影响更大。

  用熔化法和烧结法制造的接点,当硬度、纯度、表面
光洁度完全相同时,比较其结果。

  这是因为烧结金属与铸造金属的本质差别在于前者的
多孔性质,而其他金属性质却完全没有本质上的差别,用
熔化法制造时晶界物质的大部分是由固体构成的,而在烧
结金属的晶界物质中含气体多。

  另外,铸造金属的固体晶界物质通常是由具有很大结
合力的化合物组成,但这些化合物与晶粒之间的结合力一
般比较弱,则这种薄弱性在外观上主要表现为晶粒脆弱,
但这种晶粒脆弱性采用烧结法可以去除。

  因此熔化法的接点在放电时,晶界物质与晶粒之间结
合薄弱部分比晶界物质的破坏大,晶界物质破坏所生成的
粉末状氧化物少,并且在低电压电路中,由于感应在接点
产生高电压比通过接点间的电流对损耗的影响大,所以,
主要是由感应所产生的高电压使前述的结合力薄弱部分受
到很大的破坏。

(本文由上海光学仪器厂编辑整理提供, 未经允许禁止复制http://www.sgaaa.com)

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